Zusammenfassung
In diesem Kapitel sollen diejenigen Methoden zusammengestellt werden, die nur natürliches, d. h. nichtpolarisiertes Licht benötigen. Es handelt sich vorwiegend um Messungen. Genau genommen erfolgt ihre Ausführung zwar doch im polarisierten Licht, da der Polarisator im Strahlengang verbleibt, was aber ohne Einfluß ist und daher nicht berücksichtigt werden muß. Der Analysator bleibt immer ausgeschaltet.
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Referenzen
A. Rittmann, Nuovo metodo per la determinazione della birifrangenza massima dei minerait micacei, Atti Fondazione Politecnica del Mezzogiorno (Napoli) 3, 2, Anm. (1947).
A. Rittmann, Nuovo metodo per la determinazione della birifrangenza massima dei minerait micacei, Atti Fondazione Politecnica del Mezzogiorno (Napoli) 3, 2, Anm. (1947).
M. Berek, Grundlagen der Tiefenwahrnehmungen im Mikroskop, Sitz.-Ber. Ges. Förd. ges. Naturw. Marburg 62, 189–223 (1927). — F. Rinne und M. Berek, 1. c. (1934), S. 188–190.
Es muß jedoch darauf hingewiesen werden, daß die Schliffvermessung für opake Komponenten, besonders wenn diese fein verteilt sind, einen zu hohen Wert liefert. Dies rührt davon her, daß der ganze Zylinder mit dem Kornumriß als Grundfläche und der Schliffdicke als Höhe als
vom opaken Korn erfüllt angenommen wird, während sein wahres Volumen bei schrägliegenden Grenzflächen oder kugeliger Gestalt tatsächlich kleiner ist. Bei durchsichtigen Komponenten wird dieser Fehler korrigiert, indem man bei der Vermessung immer instinktiv auf die Mitte der Überlappungszone der angrenzenden Körner einstellt, was bei opaken Körnern nicht möglich ist. A. Rittmann, der erstmalig auf diese Fehlerquelle aufmerksam machte, hat auch gezeigt, wie unter gewissen vereinfachenden Annahmen ein Korrekturfaktor berechnet werden kann. A. Rittmann, Fattore di correzione da apportare alla percentuale di minerait opachi determinati nelle sezioni sottili col metodo di Rosiwal, Period. Min. 16, 109–122 (1947).
Nach diesem Prinzip arbeiten z. B. die Integriervorrichtung «Sigma» von R. Fuess in Berlin-Steglitz oder der «Hurlbut electric counter for thin section analysis» der Cambridge Thermionic Corporation, Cambridge 38 (Mass., USA.).
Besonders angenehm im Gebrauch sind Netzmikrometer mit schachbrettartig angeordneten, abwechselnd klaren und leicht hellgrau getönten Feldern, wie sie von der Firma Rheinbergs, Ltd., 57–60, Holborn Viaduct, London E.C. 1, mit den Maschenweiten 2, I, 0,5 und 0,25 mm geliefert werden.
D. Korn, Die Lagebestimmung opaker Mineralien im Erzmikroskop. In: H. Schneiderhöhn und P. Ramdohr, Lehrbuch der Erzmikroskopie I. 1, 265—302, Berlin (1934).
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© 1950 Springer Basel AG
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Burri, C. (1950). Untersuchungen im natürlichen Licht. In: Das Polarisationsmikroskop. Lehrbücher und Monographien aus dem Gebiete der Exakten Wissenschaften, vol 25 . Springer, Basel. https://doi.org/10.1007/978-3-0348-4123-8_3
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Publisher Name: Springer, Basel
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