Abstract
The discovery of X-rays by Roentgen in 1891 allowed study of crystalline materials on an atomic scale. The X-ray energy range is of the order of 1 keV, which corresponds to wavelengths of 10 Å.
Access this chapter
Tax calculation will be finalised at checkout
Purchases are for personal use only
Preview
Unable to display preview. Download preview PDF.
References
H. Ficke, Phys. Rev. 16, 2 (1920).
G. Hertz, Zeit. Phys. 3, 19 (1920).
J. D. Hanawalt, Phys. Rev. 70, 20 (1931).
R. de L. Kronig, Zeit. Phys. 70, 317 (1931).
R. de L. Kronig, Zeit. Phys. 75, 468 (1932).
H. Petersen, Zeit Phys. 78.768(1932).
H. Petersen, Zeit Phys. 80.528(1933).
H. Petersen, Zeit Phys. 98.768(1936).
M. Sawada, Rep. Sci. Works, OSAKA University (1979).
V. V. Smidt, Bull. Acad. Sci. USSR, Ser. Phys. 25, 998 (1961).
V. V. Smith, Bull. Acad. Sci. USSR, Ser. Phys. 27, 998 (1961).
E. A. Stern, Phys. Rev. BIO, 3027 (1974).
D. E. Sayers, E. A. Stern, and F. W. Lytle, Phys. Rev. Lett. 27, 1204 (1971).
C. Wivel, R. Candia, B. S. Clausen, S. Morups, and H. Topsoe, J. Catal. 68, 453 (1981).
B. S. Clausen, H. Topsoe, R. Candia, J. Vailladsen, B. Lengeler, J. Als-Nielsen, and F. Christensen, J. Phys. Chem. 85, 3868 (1981).
R. Candia, B. S. Clausen, J. Bartholdy, H. Y. Topsoe, B. Lengeler, and H. Topsoe, Proc. 8th Inter. Congress Catal (1984), p. II - 375.
B. S. Clausen, B. Lengeler, R. Candia, J. Als-Nielsen, and H. Topsoe, Bull. Soc. Chim. Belg. 90, 1249 (1981).
G. Sankar, S. Vasudevan, and C. N. R. Rao, J. Phys. Chem. 91 (1987).
S. M. A. A. Bouwens, D. C. Koningsberger, V. H. S. de Beer, and R. Prins, Catal. Lett. 1, 55 (1988).
M. J. Ledoux, J. C. S. Faraday Trans. 783, 2172 (1987).
G. Sankar, P. R. Sarode, A. Srinavasan, C. N. R. Rao, S. Vasudevan, and J. M. Thomas, Proc. Indian Acad. Sci. 93, 321 (1984).
N. Kakuta, K. Tohji, and Y. Ugadawa, J. Phys. Chem. 92, 2853 (1988).
C. T. J. Mensch, J. A. R. van Veen, van Wingerden, and M. P. van Dijk, J. Phys. Chem. 92, 4961 (1988).
J. A. R. van Veen and P. A. J. M. Hendricks, Polyhedron 5, 75 (1986).
R. Kozlowski, R. F. Pettifer, and T. M. Thomas, J. Phys. Chem. 87, 5176 (1983).
T. Tanaka, H. Yamashita, R. Tsuchitani, T. Funabiki, and S. Yoshida, J. Chem. Soc., Faraday Trans. I84 2987 (1988).
J. Wong, F. W. Lytle, R. P. Messmer, and D. H. Maylotte, Phys. Rev. B30 5569 (1984) and references cited herein.
R. G. Shulman, Y. Yafet, P. Eisenberger, and W. E. Blumberg, Proc. Nat. Acad. Sci. USA 73, 1384 (1986).
I. D. Brown and U. U. Wu, Acta Crystallogr. 832, 1957 (1976).
Y. Kobayashi, M. Yamagichi, T. Tanaka, and S. Yoshida, J Chem. Soc., Faraday Trans. 181, 1513 (1985).
S. Yoshida, T. Matsuzaki, T. Kashiwasaki, M. Mori, and K. Tamara, Bull. Soc. Chim. Japan 47, 1564 (1974).
H. F. J. van’t Blik, J. B. A. D. van Zon, T. Huibinga, J. C. Vis, D. C. Koningsberger, and R. Prins, J. Phys. Chem. 83, 2264 (1983).
H. F. J. van’t Blik, J. B. A. D. van Zon, J. C. Vis, D. C. Koningsberger, and R. Prins, J. Mol. Catal. 25, 379 (1984).
T. Fukushima and J. R. Katzer, Proc. 7th Inter. Congress on Catalysis (1980).
D. C. Koningsberger, J. H. A. Martens, R. Prins, D. R. Short, and D. E. Sayers, J. Phys. Chem. 90, 3049 (1986).
B. K. Teo, EXAFS: Basic Principles and Data Analysis, Springer-Verlag, Berlin (1986), p. 139.
J. E. Huheey, Principles of Structure and Reactivity, Harper and Row, New York (1972), p. 193.
G. Vlaic, J. C. J. Bart, W. Cavigliolo, A. Furesi, V. Ragaini, M. G. Cattania-Sabbadini, and E. Burattini, J. Catal. 107, 263 (1987).
J. H. A. Martens, R. Prins, H. Zandberger, and D. C. Koningsberger, J. Phys. Chem. 92, 1903 (1988).
B. J. Kip, R. Prins, F. B. M. Duivenvoorden, and D. C. Koningsberger, J. Catal. 105, 26 (1987).
F. W. Lytle, P. S. W. Wei, R. B. Greegor, G. H. Via, and J. H. Sinfelt, J. Chem. Phys. 70, 4849 (1979).
T. K. Sham, Phys. Rev. 831, 1888 (1985).
J. A. Horsley, J. Chem. Phys. 76, 1451 (1982).
F. W. Lytle, J. Catal. 43, 376 (1976).
B. Moraweck, P. Bondot, D. Goupil, P. Fouilloux, and A. J. Renouprez, J. Phys. Fr. Coll. C8 39, 263 (1986).
J. H. Sinfelt, G. H. Via, F. W. Lytle, and R. B. Greegor, J. Chem. Phys. 75, 5527 (1981).
D. R. Short, A. N. Mansour, Jr., J. W. Cook, D. E. Sayers, and J. R. Katzer, J. Catal. 82, 299 (1983).
A. N. Mansour, Jr., J. W. Cook, and D. E. Sayers, J. Phys. Chem. 88, 2330 (1984).
N. W. Smith, G. K. Wertheim, S. Huefer, and M. M. M. Traum, Phys. Rev. BIO, 3197 (1974).
J. H. Sinfelt, G. H. Via, and F. W. Lytle, Catal. Rev. Sci. Eng. 26, 81 (1984).
A. Borgna, B. Moraweck, and A. J. Renouprez, J. Chem. Phys. Biol. 86, 1719 (1989).
A. Borgna, B. Moraweck, and P. Fessier, Powder Diffraction 4, 217 (1989).
A. Borgna, B. Moraweck, J. Massardier, and A. J. Renouprez, J. Catal. 128, 99 (1991).
N. Guyot-Sionnest, D. Bazin, J. Lynch, J. P. Bournonville, and H. Dexpert, Physica B158, 211 (1989).
J. H. Sinfelt, G. H. Via, and F. W. Lytle, J. Chem. Phys. 72, 4832 (1980).
G. Meitzner, G. H. Via, F. W. Lytle, and J. H. Sinfelt, J. Chem. Phys. 78, 882 (1980).
G. Meitzner, G. H. Via, F. W. Lytle, and J. H. Sinfelt, J. Chem. Phys. 78, 2553 (1980).
B. K. Teo and P. A. Lee, J. Am. Chem. Soc. 101, 2815 (1979).
A. G. McKale, B. W. Veal, A. P. Paulikas, S. K. Chan, and G. S. Knapp, J. Am. Chem. Soc. 110, 3763 (1988).
J. M. Tonnerre, Thesis, Université Paris X, Orsay (1989).
W. W. Beeman and W. Friedman, Phys. Rev. 56, 392 (1939).
S. A. Nemnonov and M. F. Sorokin, Bull. Acad. Sci. SSSR, Phys. Ser. 24, 462 (1960).
L. A. Grunes, Phys. Rev. B27, 2111 (1983).
G. Bergeret and P. Gallezot, this volume Chapter 15.
B. K. Teo, J. Am. Soc. 101, 3990 (1981).
P. A. Lee and G. Beni, Phys. Rev. B15, 2862 (1977).
S. J. Gurman and R. F. Pettifer, Phil. Mag. 40, 345 (1979).
E. D. Crozier and A. J. Seary, Can. J. Phys. 58, 1388 (1980).
B. K. Teo, H. S. Chang, R. Wang, and M. R. Antonio, J. Non-Cryst. Solids 58, 1388 (1983).
B. K. Teo, EXAFS: Basic Principles and Data Analysis, Springer-Verlag, Berlin (1986), p. 106.
Ibid., p. 34.
M. Astier, A. Bertrand, and S. J. Teichner, Can. J. Chem. Eng., 60, 40 (1982).
P. Eisenberger and G. S. Brown, Solid State Comm. 29, 481 (1979).
F. W. Kutzler, C. R. Natoli, D. K. Miseder, S. Doniach, and K. O. Hodgson, J. Chem. Phys. 73, 3274 (1980).
R. E. Newnham and Y. M. de Haan, Z. Krist 177, 235 (1962).
Structures fines d’absorption des rayons X en chimie: des données expérimentales à leur analyse. Ecole du CNRS, GARCHY, 19–24 septembre (1988).
J. Max, Traitement du signal, Dunod, Paris (1976).
M. E. Kordesh and R. W. Hoffmann, Phys. Rev. B29, 491 (1984).
F. W. H. Kampers, EXAFS in Catalysis: Instrumentation and Applications, Eindhoven (1988).
E. Lesage-Rosenberg, Ph. D. Paris (1984), Technip.
B. Moraweck and A. J. Renouprez, Surf. Sci. 106, 35 (1981); 81, L631 (1979).
T. Yokoyama, N. Kosum, K. Asakura, Y. Iwasawa, and H. Kurosa, J. Phys. Fr. Colloque C8 47, 273 (1986).
J. Berdala, E. Freund, and J. P. Lynch, J. Phys. Fr. Coll. C8 47, 269 (1986).
D. Bazin, Thesis, Université d’Orsay (1985).
J. Berdala, E. Freund, and J. P. Lynch, J. Phys. Fr. Coll. C8 47, 265 (1986).
P. Lagarde, F. Murata, G. Vlaic, E. Freund, H. Dexpert, and J. P. Bournonville, J. Catal. 84, 333 (1983).
D. Bazin, H. Dexpert, P. Lagarde, and J. P. Bournonville, J. Catal. 110, 209 (1988).
G. Meitzner, G. H. Via, F. W. Lytle, S. C. Fung, and J. H. Sinfelt, J. Phys. Chem. 92, 2925 (1988).
Author information
Authors and Affiliations
Editor information
Editors and Affiliations
Rights and permissions
Copyright information
© 1994 Springer Science+Business Media New York
About this chapter
Cite this chapter
Moraweck, B. (1994). X-Ray Absorption Spectroscopy: EXAFS and XANES. In: Imelik, B., Vedrine, J.C. (eds) Catalyst Characterization. Fundamental and Applied Catalysis. Springer, Boston, MA. https://doi.org/10.1007/978-1-4757-9589-9_14
Download citation
DOI: https://doi.org/10.1007/978-1-4757-9589-9_14
Publisher Name: Springer, Boston, MA
Print ISBN: 978-1-4757-9591-2
Online ISBN: 978-1-4757-9589-9
eBook Packages: Springer Book Archive