Abstract
This chapter reviews the interfacial chemistry observed for III-V semiconductors, with particular attention to native and deposited oxide gate dielectrics. The chemical states observed at the III-V surface as studied by x-ray photoelectron spectroscopy are presented, and the suppression of oxide formation with deposition techniques, particularly atomic layer deposition, is discussed. The resultant electrical properties of these interfaces are then reviewed, with attention to the interpretation of capacitance-voltage and related transistor measurements.
Access this chapter
Tax calculation will be finalised at checkout
Purchases are for personal use only
Notes
- 1.
For an excellent review of the developments of gate dielectric studies for GaAs up until ~1985, see: Physics and Chemistry of III-V Compound Semiconductor Interfaces, edited by C. Wilmsen, (Plenum, New York, 1985).
- 2.
See: C. L. Hinkle, M. Milojevic, E. M. Vogel and R. M. Wallace, Appl. Phys. Lett. 95, 151905 (2009).
- 3.
For an early review of high-k gate dielectrics, see the MRS Bulletin March 2002 issue.
References
H. C. Gatos, J. Lagowski, T. E. Kazior, Jpn. J. Appl. Phys. Suppl. 22, 11 (1983), and refs. therein.
G. D. Wilk, R. M. Wallace, J. M. Anthony, J. Appl. Phys. 89, 5243 (2001).
R. M. Wallace, P. C. McIntyre, J. Kim, Y. Nishi, Mat. Res. Bull. 34(7), 493 (2009).
R. E. Schlier, H. E. Farnsworth, J. Chem. Phys. 30, 917 (1959).
H. Welker, Z. Naturforsch. A 7, 744 (1952).
V. P. LaBella, M. R. Krause, Z. Ding, P. M. Thibado, Surf. Sci. Rep. 60, 1–53 (2005).
L. L. Chang, L. Esaki, W. E. Howard, R. Ludeke, J. Vac. Sci. Technol. 10, 11 (1973).
L. L. Chang, L. Esaki, W. E. Howard, R. Ludeke, G. Schul, J. Vac. Sci. Technol. 10, 655 (1973).
A. Y. Cho, J. Appl. Phys. 47, 2841 (1976).
R. A. Kubiak, S. M. Newstead, P. Sullivan, in Moleculaar Beam Epitaxy, R. Farrow, Ed., Noyes Publications, Park Ridge, NJ (1995) 77.
V. P. LaBella, D. W. Bullock, C. Emery, Z. Ding, P. M. Thibado, Appl. Phys. Lett. 79, 3065 (2001).
J. A. Appelbaum, G. A. Baraff, D. R. Hamann, J. Vac. Sci. Technol. 13, 751 (1976).
P. K. Larsen, J. H. Neave, B. A. Joyce, J. Phys. C: Solid State Phys. (UK) 14, 167 (1981).
P. K. Larsen, J. F. van der Veen, A. Mazur, J. Pollmann, J. H. Neve, B. A. Joyce, Phys. Rev. B 26, 3222 (1982).
H. Tsuda, T. Mizutani, Appl. Phys. Lett. 60, 1570 (1992).
W. Barvosa-Carter, R. S. Ross, C. Ratsch, F. Grosse, J. H. G. Owen, J. J. Zinck, Surf. Sci. 499, 129 (2002).
J. R. Arthur, Surf. Sci. 43, 449 (1974).
J. Massies, P. Etienne, F. Dezaly, N. T. Linh, Surf. Sci. 99, 121 (1980).
M. D. Pashley, K. W. Haberern, W. Friday, J. M. Woodall, P. D. Kirchner, Phys. Rev. Lett. 60, 2176 (1988).
D. K. Biegelsen, R. D. Bringans, L. E. Swartz, Proc. SPIE 1186, 136 (1990).
D. K. Biegelsen, R. D. Bringans, J. E. Northrup, L. E. Swartz, Phys. Rev. B 41, 5701 (1990).
M. D. Pashley, K. W. Haberern, R. M. Feenstra, J. Vac. Sci. Technol. B 10, 1874 (1992).
M. D. Pashley, K. W. Haberern, Ultramicroscopy 42 – 44, 1281 (1992).
V. P. LaBella, H. Yang, D. W. Bullock, P. M. Thibado, P. Kratzer, M. Scheffler, Phys. Rev. Lett. 83, 2989 (1999).
M. D. Pashley, K. W. Haberern, R. M. Feenstra, P. D. Kirchner, Phys. Rev. B 48, 4612 (1993).
D. J. Chadi, C. Tanner, J. Ihm, Surf. Sci. 120, 425 (1982).
B. A. Joyce, J. H. Neave, P. J. Dobson, P.K. Larsen, Phys. Rev. B 29, 814 (1984).
D. J. Chadi, J. Vac. Sci. Technol. A 5, 834 (1987).
D. J. Frankel, C. Yu, J. P. Harbison, H. H. Farrell, J. Vac. Sci. Technol. B 5, 1113 (1987).
W. G. Schmidt, F. Bechstedt, Phys. Rev. B 54, 16742 (1996).
M. D. Johnson, K. T. Leung, A. Birch, B. G. Orr, J. Tersoff, Surf. Sci. 350, 254 (1996).
J. Tersoff, M. D. Johnson, B. G. Orr, Phys. Rev. Lett. 78, 282 (1997).
W. M. Lau, R. N. S. Sodhi, S. Jin, S. Ingrey, N. Puetz, A. Spring Thorpe., J. Appl. Phys. 67, 768 (1990).
F. S. Aguirre-Tostado, M. Milojevic, C. L. Hinkle, E. M. Vogel, R. M. Wallace, S. McDonnell, G. J. Hughes, Appl. Phys. Lett. 92, 171906 (2008).
S. I. J. Ingrey, W. M. Lau, R. N. S. Sodhi, J. Vac. Sci. Technol. A 7, 1554 (1989).
G. Brammertz, M. Heyns, M. Meuris, M. Caymax, D. Jiang, Microelectronic Eng. 84, 2154 (2007).
W. G. Schmidt, Appl. Phys. A 75, 89 (2002).
T. Sawada, H. Hasegawa, Electron. Lett. 12, 471 (1976).
A. Callegari, P. D. Hoh, D. A. Buchanan, D. Lacey, Appl. Phys. Lett. 54, 332 (1989).
G. Sixt, K. H. Ziegler, W. R. Fahrner, Thin Solid Films 56, 107 (1979).
M. Passlack, M. Hong, J. P. Mannaerts, Appl. Phys. Lett. 68, 1099 (1996).
W. E. Spicer, N. Newman, C. J. Spindt, Z. Lilientalweber, E. R. Weber, J. Vac. Sci. Tech. A 8, 2084 (1990).
S. Koveshnikov, W. Tsai, I. Ok, J. C. Lee, V. Torkanov, M. Yakimov, S. Oktyabrsky, Appl. Phys. Lett. 88, 022106 (2006).
D. L. Winn, M. J. Hale, T. J. Grassman, A. C. Kummel, R. Droopad, M. Passlack, J. Chem. Phys. 126, 084703 (2007).
G. Hollinger, R. Skheytakabbani, M. Gendry, Phys. Rev. B 49, 11159 (1994).
C. L. Hinkle, A. M. Sonnet, E. M. Vogel, S. McDonnell, G. J. Hughes, M. Milojevic, B. Lee, F. S. Aguirre-Tostado, K. J. Choi, J. Kim, R. M. Wallace, Appl. Phys. Lett. 91, 163512 (2007).
C. L. Hinkle, M. Milojevic, B. Brennan, A. M. Sonnet, F. S. Aguirre-Tostado, G. J. Hughes, E. M. Vogel, R. M. Wallace, Appl. Phys. Lett. 94, 162101 (2009).
C. L. Hinkle, M. Milojevic, A. M. Sonnet, H. C. Kim, J. Kim, E. M. Vogel, R. M. Wallace, ECS Trans. 19, 387 (2009).
G. P. Schwartz, G. J. Gualtieri, G. W. Kammlott, B. Schwartz, J. Electrochem. Soc. 126, 1737 (1979).
A. J. Bard, R. Parsons, J. Jordan, Standard Potentials in Aqueous Solution, International Union of Pure and Applied Chemistry.
H. He, C.-F. Cheng, S. Seal, T. L. Barr, J. Klinowski, J. Phys. Chem. 99, 3235 (1995).
G. Hollinger, E. Bergignat, J. Joseph, Y. Robach, J. Vac. Sci. Technol. A 3, 2082 (1985).
P. G. Hofstra, D. A. Thompson, B. J. Robinson, M. P. Besland, M. Gendry, P. Regreny, G. Hollinger, J. Appl. Phys. 77, 5167 (1995).
E. Weiss, O. Klin, S. Grossman, S. Greenberg, P. C. Klipstein, R. Akhvlediani, R. Tessler, R. Edrei, A. Hoffman, J. Vac. Sci. Technol. A 25, 736 (2007).
G. P. Schwartz, Thin Solid Films 103, 3 (1983).
M. Milojevic, C. L. Hinkle, E. M. Vogel, R. M. Wallace (unpublished).
A. M. Sonnet, C. L. Hinkle, M. N. Jivani, R. A. Chapman, G. P. Pollack, R. M. Wallace, E. M. Vogel, Appl. Phys. Lett. 93, 122109 (2008).
C. L. Hinkle, M. Milojevic, E. M. Vogel, R. M. Wallace (unpublished).
S. Doniach M. Sunjic, J. Phys. C 3, 285 (1970).
M. V. Lebedev, D. Ensling, R. Hunger, T. Mayer, W. Jaegermann, Appl. Surface Sci. 229, 226 (2004).
S. Adachi, D. Kikuchi, J. Electrochem. Soc. 147, 4618 (2000).
C. L. Hinkle, A. M. Sonnet, E. M. Vogel, S. McDonnell, G. J. Hughes, M. Milojevic, B. Lee, F. S. Aguirre-Tostado, K. J. Choi, H. C. Kim, J. Kim, R. M. Wallace, Appl. Phys. Lett. 92, 071901 (2008).
C. L. Hinkle, A. M. Sonnet, M. Milojevic, F. S. Aguirre-Tostado, H. C. Kim, J. Kim, R. M. Wallace, E. M. Vogel, Appl. Phys. Lett. 93, 113506 (2008).
R. Droopad, M. Passlack, N. England, K. Rajagopalan, J. Abrokwah, A. Kummel, Microelectronic Eng. 80, 138 (2005).
R. Droopad, K. Rajagopalan, J. Abrokwah, L. Adams, N. England, D. Uebelhoer, P. Fejes, P. Zurcher, M. Passlack, J. Cryst. Growth 301 – 302, 139 (2007).
M. Holland, P. Longo, G. W. Paterson, W. Reid, A. R. Long, C. R. Stanley, A. J. Craven, I. Thayne, R. Gregory, Microelectronic Eng. 86, 244 (2009).
M. J. Hale, S. I. Yi, J. Z. Sexton, A. C. Kummel, M. Passlack, J. Chem. Phys. 119, 6719 (2003).
Z. Yu, C. D. Overgaard, R. Droopad, M. Passlack J. K. Abrokwah, Appl. Phys. Lett. 82, 2978 (2003).
I.-J. Ok, H. Kim, M. Zhang, F. Zhu, S. Park, J. Yum, H. Zhao, D. Garcia, P. Majhi, J. C. Lee, Appl. Phys. Lett. 92, 202908 (2008).
P. Longo, A. J. Craven, M. C. Holland, D. A. J. Moran, I. G. Thayne, Microelectronic Eng. 86, 214 (2009).
M. Passlack, M. Hong, R. L. Opila, J. P. Mannaerts, J. R. Kwo, Appl. Surf. Sci. 104/105, 441 (1996).
A. J. Rosenberg, J. Phys. Chem. 64, 1143 (1960).
A. H. Hou, M. C. Chen, C. H. Chang, T. B. Wu, C. D. Chiang, J. J. Luo, J. Electrochem. Soc. 155, G180 (2008).
R. P. Vasquez F. J. Grunthaner, J. Vac. Sci. Technol. 19, 431 (1981).
K. Loschke, G. Kuhn, H. J. Bitz, G. Leonhardt, Thin Solid Films 48, 229 (1978).
J. F. Wager, K. M. Geib, C. W. Wilmsen, L. L. Kazmerski, J. Vac. Sci. Technol. B 1, 778 (1983).
J. F. Wager, D. L. Ellsworth, S. M. Goodnick, C. W. Wilmsen, J. Vac. Sci. Technol. 19, 513 (1981).
M. Rubenstein, J. Electrochem. Soc. 113, 540 (1966).
R. Nishitani, H. Iwasaki, Y. Mizokawa, S. Nakamura, Jpn. J. Appl. Phys. 17, 321 (1978).
T. Ikoma, H. Yokomizo, H. Tokuda, Jpn. J. Appl. Phys. Suppl. 18, 131 (1979).
T. Sawada, H. Hasegawa, Thin Solid Films 56, 183 (1979).
H. H. Wieder, J. Vac. Sci. Technol. B 11, 1331 (1993); and refs. therein.
W. E. Spicer, I. Lindau, P. Pianetta, P. W. Chye, C. M. Garner, Thin Solid Films 56, 1 (1979).
K. Heime, InGaAs Field Effect Transistors, Research Studies Press Ltd., Taunton, Somerset, England (1989), ISBN: 0 86380 083 1.
Y. Q. Wu, P. D. Ye, G. D. Wilk, B. Yang, Mater. Sci. Eng. B 135, 282 (2006), and refs. therein.
Y. C. Chang, W. H. Chang, H. C. Chiu, L. T. Tung, C. H. Lee, K. H. Shiu, M. Hong, J. Kwo, J. M. Hong, C. C. Tsai, Appl. Phys. Lett. 93, 053504 (2008).
T. Ashley, A. B. Dean, C. T. Elliott, R. Jefferies, F. Khaleque, T. J. Phillips, “High-speed, Low-Power InSb Transistors,” Proc. Int. Elec. Dev. Meet. 97 (30.4.1), 751 (1997). This work actually utilized sputter deposited SiO2.
S. Datta, Micrelectronic Eng. 84, 2133 (2007). This work actually utilizes ALD Al2O3 to isolate the gate for the buried QW structure, and is not in direct contact with the InSb.
M. V. Lebedev, Prog. Surf. Sci. 70, 153 (2002).
V. N. Bessolov, M. V. Lebedev, Semiconductors 32, 1141 (1998).
J.-F. Fan, H. Oigawa Y. Nannichi, Jpn. J. Appl. Phys., Part 2 27, L1331 (1988).
Y. Nannichi, J. Fan, H. Oigawa, A. Koma, Jpn. J. Appl. Phys., Part 2 27, L2367 (1988).
H. Oigawa, J.-F. Fan, Y. Nannichi, K. Ando, K. Saiki, A. Koma, Jpn. J. Appl. Phys., Part 2, 28, L340 (1989).
E. Yablonovitch, B. J. Skromme, R. Bhat, J. P. Harbison, T. J.Gmitter, Appl. Phys. Lett. 54, 555 (1989).
C. J. Sandroff, R. N. Nottenburg, J.-C. Bischoff, R. Bhatt, Appl. Phys. Lett. 51, 33 (1987).
E. Yablonovitch, C. J. Sandroff, R. Bhat, T. Gmitter, Appl. Phys. Lett. 51, 439 (1987).
Z. Liu, Y. Sun, F. Machuca, P. Pianetta, W. E. Spicer, R. F. W. Pease, J. Vac. Sci. Technol. A 21, 212 (2003).
S. M. Mokler, P. R. Watson, J. Vac. Sci. Technol. A 9, 1374 (1991).
B. A. Kuruvilla, S. V. Ghaisas, A. Datta, S. Banerjee, S. K. Kulkarni, J. Appl. Phys. 73, 4384 (1993).
S. A. Chambers, V. S. Sundaram, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 2256 (1991).
C. C. Chang, P. H. Citrin, B. Schwartz, J. Vac. Sci. Technol. 14, 943 (1977).
Y. Ishikawa, H. Ishii, H. Hasegawa, T. Fukui, J. Vac. Sci. Technol. B 12, 2713 (1994).
M. S. Abrahams, C. J. Buiocchi, J. Appl. Phys. 36, 2855 (1965).
E. Yablonovitch, H. M. Cox, T. J. Gmitter, Appl. Phys. Lett. 52, 1002 (1988).
G. C. DeSalvo, C. A. Bozada, J. L. Ebel, D. C. Look, J. P. Barrette, C. L. A. Cerny, R. W. Dettmer, J. K. Gillespie, C. K. Havasy, T. J. Jenkins, K. Nakano, C. I. Pettiford, T. K. Quach, J. S. Sewell, G. D. Via, J. Electrochem. Soc. 143, 3652 (1996).
P. T. Chen, Y. Sun, E. Kim, P. C. McIntyre, W. Tsai, M. Garner, P. Pianetta, Y. Nishi, C. O. Chui, J. Appl. Phys. 103, 034106 (2008).
F. S. Aguirre-Tostado, M. Milojevic, K. J. Choi, H. C. Kim, C. L. Hinkle, E. M. Vogel, J. Kim, T. Yang, Y. Xuan, P. D. Ye, R. M. Wallace, Appl. Phys. Lett. 93, 061907 (2008).
N. J. Kawai, T. Nakagawa, T. Kojima, K. Ohta, M. Kawashima, Electron. Lett. 20, 47 (1984).
R. P. H. Chang, S. Darack, Appl. Phys. Lett. 38, 898 (1981).
S. Sugata, A. Takamori, N. Takado, K. Asakawa, E. Miyauchi, H. Hasimoto, J. Vac. Sci. Technol. B 5, 1087 (1988).
T. Suguya, M. Kawabe, Japan. J. Appl. Phys. 30(3A), L402 (1991).
R. W. Grant, J. R. Waldrop, J. Vac. Sci. Technol. B 5, 1015 (1987).
G. G. Fountain, S. V. Hattangady, D. J. Vitkavage, R. A. Rudder, R. J. Markunas, Electron. Lett. 24, 1134 (1988).
J. L. Freeouf, J. A. Silberman, S. L. Wright, S. Tawari, J. Batey, J. Vac. Sci. Technol. B 7, 854 (1989).
S. Tawari, S. L. Wright, J. Batey, IEEE Electron Device Lett. 9, 488 (1988).
A. Callegari, D. K. Sadana, D. A. Buchanan, A. Paccagnella, E. D. Marshall, M. A. Tischler, M. Norcoft, Appl. Phys. Lett. 58, 2540 (1991).
D. G. Park, M. Tao, J. Reed, K. Suzue, A. E. Botchkarev, Z. Fan, G. B. Gao, S. J. Chey, J. Van Nostrand, D. G. Cahill, H. Morkoç, J. Crys. Growth 150, 1275 (1995).
J. Ivanco, T. Kubota, H. Kobayashi, J. Appl. Phys. 97, 073712 (2005).
O. E. Tereshchenko, D. Paget, P. Chiaradia, J. E. Bonnet, F. Wiame, A. Taleb-Ibrahimi, Appl. Phys. Lett. 82, 4280 (2003).
Y. Sun, P. Pianetta, P.-T. Chen, M. Kobayashi, Y. Nishi, N. Goel, M. Garner, W. Tsai, Appl. Phys. Lett. 93, 194103 (2008).
W. M. Lau, R. N. S. Sodhi, S. Jin, S. Ingrey, N. Puetz, A. Springthorpe, J. Appl. Phys. 67, 768 (1990).
J. H. Thomas, III, G. Koganowicz, J. W. Robinson, J. Electrochem. Soc. 135, 1201 (1988).
S. J. Pearton, F. Ren, C. R. Abernathy, W. S. Hobson, T. R. Fullowan, R. Esagui, J. R. Lothian, Appl. Phys. Lett. 61, 586 (1992).
J. M. Orton, Y. Cordier, J. C. Garcia, D. Adam, C. Grattepain, Jpn. J. Appl. Phys. 35, 5964 (1996).
E. O’Connor, R. D. Long, K. Cherkaoui, K. K. Thomas, F. Chalvet, I. M. Povey, M. E. Pemble, P. K. Hurley, B. Brennan, G. Hughes, S. B. Newcomb, Appl. Phys. Lett. 92, 022902 (2008).
B. Banse, J. Creighton, Appl. Phys. Lett. 60, 856 (1992).
C. Sasaoka, Y. Kato, A. Usui, Appl. Phys. Lett. 62, 2338 (1993).
K. Evans, R. Kaspi, J. Ehret, M. Skowronski, C. Jones, J. Vac. Sci. Tech. B 13, 1820 (1995).
K. Kukli, J. Aarik, M. Ritala, T. Uustare, T. Sajavaara, J. Lu, J. Sundqvist, A. Aidla, L. Pung, A. Harsta, M. Leskela, J. Appl. Phys. 96 (9), 5298 (2004).
R. Puurunen, M. Lindblad, A. Root, A. Krause, Phys. Chem. Chem. Phys. 3, 1093 (2001).
K. Kukli, M. Ritala, T. Sajavaara, J. Keinonen, M. Leskela, Chem. Vap. Dep. 8, 199 (2002).
P. D. Ye, G. D. Wilk, B. Yang, J. Kwo, H.-J. L. Gossmann, M. Hong, K. K. Ng, J. Bude, Appl. Phys. Lett. 84, 434 (2004).
D. Shahrjerdi, T. Rotter, G. Balakrishnan, D. Huffaker, E. Tutuc, S. K. Banerjee, IEEE Electron Device Lett. 29, 575 (2008).
N. Goel, P. Majhi, C. O. Chui, W. Tsai, D. Choi J. S. Harris, Appl. Phys. Lett. 89, 163517 (2006).
C. H. Chang, Y. K. Chiou, Y. C. Chang, K. Y. Lee, T. D. Lin, T. B. Wu, M. Hong, J. Kwo, Appl. Phys. Lett. 89, 242911 (2006).
M. Cho, D. Jeong, J. Park, H. Park, S. Lee, T. Park, C. Hwang, G. Jang, J. Jeong, Appl. Phys. Lett. 85, 5953 (2004).
G. K. Dalapati, Y. Tong, W. Y. Loh, H. K. Mun, B. J. Cho, IEEE Trans. Electron Device 54, 1831 (2007).
T. Yang, Y. Xuan, D. Zemlyanov, T. Shen, Y. W. Wu, J. M. Woodall, P. D. Ye, F. S. Aguirre-Tostado, M. Milojevic, S. McDonnell, R. M. Wallace, Appl. Phys. Lett. 91, 142122 (2007).
K. Kim, D. Farmer, J. -S. M. Lehn, P. V. Rao, R. Gordon, Appl. Phys. Lett. 89, 133512 (2006).
W. He, D. S. H. Chan, S. Kim, Y.-S. Kim, S.-T. Kim, B. J. Choc, J. Electrochem. Soc. 155(10), G189 (2008).
F. S. Aguirre-Tostado, M. Milojevic, B. Lee, J. Kim, R. M. Wallace, Appl. Phys. Lett. 93, 172907 (2008).
P. D. Ye, G. D. Wilk, B. Yang, J. Kwo, S. N. G. Chu, S. Nakahara, H.-J. L. Gossmann, J. P. Mannaerts, M. Hong, K. K. Ng, J. Bude, Appl. Phys. Lett., 83, 180 (2003).
P. D. Ye, G. D. Wilk, J. Kwo, B. Yang, H.-J. L. Gossmann, M. Frei, S. N. G. Chu, J. P. Mannaerts, M. Sergent, M. Hong, K. K. Ng, J. Bude, IEEE Electron Device Lett. 24, 209 (2003).
M. W. Hong, J. R. Kwo, P. J. Tsai, Y. C. Chang, M. L. Huang, C. P. Chen, T. D. Lin, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 46, 3167 (2007); and refs. therein.
M. M. Frank, G. D. Wilk, D. Starodub, T. Gustafsson, E. Garfunkel, Y. J. Chabal, J. Grazul, D. A. Muller, Appl. Phys. Lett. 86, 152904 (2005).
D. Shahrjerdi, E. Tutuc, S.K. Banerjee, Appl. Phys. Lett. 91, 063501 (2007).
C. Y. Kim, S. W. Cho, M.-H. Cho, K. B. Chung, C.-H. An, H. Kim, H. J. Lee, D.-H. Ko, Appl. Phys. Lett. 93, 192902 (2008).
J. C. Hackley, J. D. Demaree, T. Gougousi, Appl. Phys. Lett. 92, 162902 (2008).
T. Sawada H. Hasegawa, Thin Solid Films 56, 183 (1979).
H. Hasegawa T. Sawada, IEEE Trans. Electron Device 27, 1055 (1980).
D. Shahrjerdi, D. I. Garcia-Gutierrez, T. Akyol, S. R. Bank, E. Tutuc, J. C. Lee, S. K. Banerjee, Appl. Phys. Lett. 91, 193503 (2007).
J. P. de Souza, E. Kiewra, Y. Sun, A. Callegari, D. K. Sadana, G. Shahidi, D. J. Webb, J. Fompeyrine, R. Germann, C. Rossel, C. Marchiori, Appl. Phys. Lett. 92, 153508 (2008).
M. D. Pashley, K. W. Haberern, R. M. Feenstra, P. D. Kirchner, Phys. Rev. B 48, 4612 (1993).
D. Yan, E. Look, X. Yin, F. H. Pollak, J. M. Woodall, Appl. Phys. Lett. 65, 186 (1994).
H.-L. Lu, L. Sun, S.-J. Ding, M. Xu, D. Wei Zhang, L.-K. Wang, Appl. Phys. Lett. 89, 152910 (2006).
R. L. Puurunena, J. Appl. Phys. 97, 121301 (2005).
M. J. Hale, J. Z. Sexton, D. L. Winn, A. C. Kummel, M. Erbudak, M. Passlack, J. Chem. Phys. 120, 5745 (2004), and refs. therein.
M. L. Huang, Y. C. Chang, C. H. Chang, T. D. Lin, J. Kwo, T. B. Wu, M. Hong, Appl. Phys. Lett. 89, 012903 (2006).
Y. Xuan, P. D. Ye, H. C. Lin, G. D. Wilk, Appl. Phys. Lett. 89, 132103 (2006).
Y. Xuan, P. D. Ye, H. C. Lin, G. D. Wilk, Appl. Phys. Lett. 88, 263518 (2006).
B. Shin, D. Choi, J. S. Harris, P. C. McIntyre, Appl. Phys. Lett. 93, 052911 (2008).
Y. Xuan, Y. Q. Wu, H. C. Lin, T. Shen, P. D. Ye, IEEE Electron Device Lett. 28, 935 (2007).
T. D. Lin, H. C. Chiu, P. Chang, L. T. Tung, C. P. Chen, M. Hong, J. Kwo, W. Tsai, Y. C. Wang, Appl. Phys. Lett. 93, 033516 (2008).
Y. Xuan, P. D. Ye, T. Shen, Appl. Phys. Lett. 91, 232107 (2007).
N. Li, E. S. Harmon, J. Hyland, D. B. Salzman, T. P. Ma, Y. Xuan, P. D. Ye, Appl. Phys. Lett. 92, 143507 (2008).
Y. C. Chang, M. L. Huang, K. Y. Lee, Y. J. Lee, T. D. Lin, M. Hong, J. Kwo, T. S. Lay, C. C. Liao, K. Y. Cheng, Appl. Phys. Lett. 92, 072901 (2008).
K. Y. Lee, Y. J. Lee, P. Chang, M. L. Huang, Y. C. Chang, M. Hong, J. Kwo, Appl. Phys. Lett. 92, 252908 (2008).
S. Koveshnikov, N. Goel, P. Majhi, H. Wen, M. B. Santos, S. Oktyabrsky, V. Tokranov, R. Kambhampati, R. Moore, F. Zhu, J. Lee, W. Tsai, Appl. Phys. Lett. 92, 222904 (2008).
N. Goel, D. Heh, S. Koveshnikov, I.Ok, S. Oktyabrsky, V. Tokranov, R. Kambhampati, M. Yakimov, Y. Sun, P. Pianetta, C. K. Gaspe, M. B. Santos, J. Lee, P. Majhi, W. Tsai, IEEE Int. Electron Device Meet. Tech. Dig. 363 (2008).
Y. Xuan, Y. Q. Wu, T. Shen, T. Yang, P. D. Ye, IEEE Int. Electron Device Meet. Tech. Dig. 637 (2007).
H. J. Oh, J. Q. Lin, S. J. Lee, G. K. Dalapati, A. Sridhara, D. Z. Chi, S. J. Chua, G. Q. Lo, D. L. Kwong, “Appl. Phys. Lett. 93, 062107 (2008).
H. Li, D. V. Shenai, R. Pugh, J. Kim, Mater. Res. Soc. Symp. Proc. 1036 (2008).
D. Choia J. S. Harris, M. Warusawithana, D. G. Schlom, Appl. Phys. Lett. 90, 243505 (2007).
S. Koveshnikov, C. Adamo, V. Tokranov, M. Yakimov, R. Kambhampati, M. Warusawithana, D. G. Schlom, W. Tsai, S. Oktyabrsky, Appl. Phys. Lett. 93, 012903 (2008).
R. M. Wallace, G. D. Wilk, MRS Bull. 27(3), 192 (2002); and associated articles in that issue.
M. L. Huang, Y. C. Chang, C. H. Chang, Y. J. Lee, P. Chang, J. Kwo, T. B. Wu, M. Hong, Appl. Phys. Lett. 87, 252104 (2005).
C. H. Chang, Y. K. Chiou, Y. C. Chang, K. Y. Lee, T. D. Lin, T.B. Wu, M. Hong, J. Kwo, Appl. Phys. Lett. 89, 242911 (2006).
M. Milojevic, F. S. Aguirre-Tostado, C. L. Hinkle, H. C. Kim, E. M. Vogel, J. Kim, R. M. Wallace, Appl. Phys. Lett. 93, 202902 (2008).
C. L. Hinkle, M. Milojevic, E. M. Vogel, R. M. Wallace, Microelectronic Eng. 86, 1544 (2009).
B. Brennan, M. Milojevic, H. C. Kim, P. K. Hurley, J. Kim, G. Hughes, R. M. Wallace, Electrochem. Sol. St. Lett. 12, H205 (2009).
S. Oktyabrsky, V. Tokranov, M. Yakimov, R. Moorea, S. Koveshnikov, W. Tsai, F. Zhuc, J. C. Lee, Mater. Sci. Eng. B 135, 272 (2006).
R. J. W. Hill, D. A. J. Moran, X. Li, H. Zhou, D. Macintyre, S. Thoms, A. Asenov, P. Zurcher, K. Rajagopalan, J. Abrokwah, R. Droopad, M. Passlack, I. G. Thayne, IEEE Electron Device Lett. 28(12), 1080 (2007).
D. H. Kim, J. A. del Alamo, IEEE Electron Device Lett. 29(8), 830 (2008).
E. H. Nicollian, J. R. Brews, MOS (Metal Oxide Semiconductor) Physics and Technology. Wiley-Interscience, New York (1982).
M. Passlack, in Materials Fundamentals of Gate Dielectrics, edited by A. A. Demkov and A. Navrotsky (Springer, Dordrecht, 2005), p. 403.
M. Passlack, R. Droopad, Z. Yu, Member, N. Medendorp, D. Braddock, Senior Member, X. W. Wang, T. P. Ma, T. Büyüklimanli, IEEE Electron. Device. Lett. 29, 1191 (2008).
K. Martens, W. Wang, K. De Keersmaecker, G. Borghs, G. Groeseneken, H. Maes, Microelectron. Eng. 84, 2146 (2007).
G. Brammertz, K. Martens, S. Sioncke, A. Delabie, M. Caymax, M. Meuris, M. Heyns, Appl. Phys. Lett. 91, 133510 (2007).
G. Brammertz, H.-C. Lin, K. Martens, D. Mercier, S. Sioncke, A. Delabie, W. E. Wang, M. Caymax, M. Meuris, M. Heyns, Appl. Phys. Lett. 93, 183504 (2008).
G. Brammertz, H. C. Lin, K. Martens, D. Mercier, C. Merckling, J. Penaud, C. Adelmann, S. Sioncke, W. E. Wang, M. Caymax, M. Meuris, M. Heyns, J. Electrochem. Soc. 155, H945 (2008).
G. Brammertz, H. C. Lin, K. Martens, D. Mercier, C. Merckling, J. Penaud, C. Adelmann, S. Sioncke, W. E. Wang, M. Caymax, M. Meuris, M. Heyns, ECS. Trans. 16, 507 (2008).
H. Hasegawa, T. Sawada, Surf. Sci. 98, 597 (1980).
H. Hasegawa, L. He, H. Ohno, T. Sawada, T. Haga, Y. Abe, H. Takahashi, J. Vac. Sci. Technol. B 5, 1097 (1987).
E. M. Vogel, V. Misra, in Handbook of Silicon Semiconductor Metrology, edited by A. C. Diebold, p. 59, Marcel Dekker, Austin (2001).
P. D. Ye, G. D. Wilk, B. Yang, J. Kwo, H. J. L. Gossmann, M. Frei, J. P. Mannaerts, M. Sergent, M. Hong, K. K. Ng, J. Bude, J. Elec. Matl. 33, 912 (2004).
H. S. Kim, I. Ok, M. Zhang, T. Lee, F. Zhu, L. Yu, J. C. Lee, Appl. Phys. Lett. 89, 222903 (2006).
E. M. Vogel, C. A. Richter, B. G. Rennex, Sol. St. Elecs. 47, 1589 (2003).
H. Preier, Appl. Phys. Lett. 10, 361 (1967).
H. Hasegawa, M. Akazawa, H. Ishii, K. Matsuzaki, J. Vac. Sci. Technol. B 7, 870 (1989).
J. L. Freeouf, D. A. Buchanan, S. L. Wright, T. N. Jackson, B. Robinson, Appl. Phys. Lett. 57, 1919 (1990).
C. L. Hinkle, M. Milojevic, E. M. Vogel, R. M. Wallace, Microelectron Eng. 86, 1544 (2009).
Z. Yu, C. D. Overgaard, R. Droopad, M. Passlack, J. K. Abrokwah, Appl. Phys. Lett. 82, 2978 (2003).
C. L. Hinkle, A. M. Sonnet, R. A. Chapman, E. M. Vogel, IEEE Electron Device Lett. 30, 316–319 (2009).
É. O’Connor, S. Monaghan, R. D. Long, A. O’ Mahony, I. M. Povey, K. Cherkaoui, M. E. Pemble, G. Brammertz, M. Heyns, S. B. Newcomb, V. V. Afanas’ev, P. K. Hurley, Appl. Phys. Lett. 94, 102902 (2009).
M. E. Levinshtein, S. L. Rumyantsev, in Handbook Series in Semiconductor Parameters, Vol 1, World Scientific, Singapore (1996), p. 77.
Y. A. Goldberg, N. M. Shmidt, in Handbook Series in Semiconductor Parameters, Vol 2, World Scientific, Singapore (1999), p. 62.
Acknowledgements
The authors gratefully acknowledge the discussions with our colleagues actively working in this field: G. Brammertz, R.A. Chapman, K.J. Cho, K.J. Choi, L. Colombo, A. Craven, N. Goel, P. Hurley, G. Hughes, H.C. Kim, J. Kim, A. Kummel, P. Mahji, P. Longo, P.C. McIntyre, S. Oktyabrsky, M. Passlack, F.S. Tostado-Agurirre, I. Thayne and P.D. Ye. The hard work and dedication of our student colleagues is also acknowledged: B. Brennan, R. Conteras, R. Galatage, M. Jivani, B. Lee, S. McDonnell, E. O’Conner, A. Sonnet, and W. Wang. This work is supported by the MARCOSRC Focus Center on Materials, Structures, and Devices, and the NIST Semiconductor Electronics Division.
Author information
Authors and Affiliations
Corresponding author
Editor information
Editors and Affiliations
Rights and permissions
Copyright information
© 2010 Springer Science+Business Media, LLC
About this chapter
Cite this chapter
Milojevic, M., Hinkle, C., Vogel, E., Wallace, R. (2010). Interfacial Chemistry of Oxides on III-V Compound Semiconductors. In: Oktyabrsky, S., Ye, P. (eds) Fundamentals of III-V Semiconductor MOSFETs. Springer, Boston, MA. https://doi.org/10.1007/978-1-4419-1547-4_6
Download citation
DOI: https://doi.org/10.1007/978-1-4419-1547-4_6
Published:
Publisher Name: Springer, Boston, MA
Print ISBN: 978-1-4419-1546-7
Online ISBN: 978-1-4419-1547-4
eBook Packages: EngineeringEngineering (R0)