Access this chapter
Tax calculation will be finalised at checkout
Purchases are for personal use only
Preview
Unable to display preview. Download preview PDF.
References
R. Berger, C. Gerber, H. P. Lang, and J. K. Gimzewski, Microelectronic Engin. 35, 373 (1997).
E. A. Wachter and T. Thundat, Rev. Sci. Instr. 66, 3662 (1995).
H. L. Tuller and R. Mlcak, Current Opinion in Solid State & Materials Science 3, 501 (1998).
A. M. Moulin, S. J. O’Shea, and M. E. Welland, Ultramicroscopy 82, 23 (2000).
P. G. Datskos, M. J. Sepaniak, C. A. Tipple, and N. Lavrik, Sens. Act. B-Chemical 76, 393 (2001).
M. Sepaniak, P. Datskos, N. Lavrik, and C. Tipple, Analytical Chemistry 74, 568A (2002).
T. Thundat, P. I. Oden, and R. J. Warmack, Microscale Thermo. Engin. 1, 185 (1997).
H. G. Craighead, Science 290, 1532 (2000).
R. D. Pereira, Biochemical Pharmacology 62, 975 (2001).
H. J. Butt, J. of Colloid and Interface Science 180, 251 (1996).
J. Samuel, C. J. Brinker, L. J. D. Frink, and F. van Swol, Langmuir 14, 2602 (1998).
L. J. D. Frink and F. van Swol, Colloids & Surfaces A Physicochemical & Engineering Aspects 162, 25 (2000).
R. Berger, E. Delamarche, H. P. Lang, C. Gerber, J. K. Gimzewski, E. Meyer, and H. J. Guntherodt, Appl. Phys. A (Materials Science Processing) 66, S 55 (1998).
J. E. Sader, J. Appl. Phys. 91, 9354 (2002).
J. E. Sader, J. Appl. Phys. 89, 2911 (2001).
M. Godin, V. Tabard-Cossa, P. Grutter, and P. Williams, Appl. Phys. Lett. 79, 551 (2001).
R. Raiteri, H. J. Butt, and M. Grattarola, Electrochimica Acta 46, 157 (2000).
K. J. Bruland, J. L. Garbini, W. M. Dougherty, and J. A. Sidles, J. of App. Phys. 83, 3972 (1998).
D. Rugar, C. S. Yannoni, and J. A. Sidles, Nature 360, 563 (1992).
H. J. Mamin and D. Rugar, Appl. Phys. Lett. 79, 3358 (2001).
P. Streckeisen, S. Rast, C. Wattinger, E. Meyer, P. Vettiger, C. Gerber, and H. J. Guntherodt, Appl. Phys. A-Materials Science & Processing 66, S341 (1998).
A. N. Cleland and M. L. Roukes, Nature 392, 160 (1998).
A. C. Stephan, T. Gaulden, A. D. Brown, M. Smith, L. F. Miller, and T. Thundat, Rev. Sci. Instrum. 73, 36 (2002).
J. R. Barnes, R. J. Stephenson, M. E. Welland, C. Gerber, and J. K. Gimzewski, Nature 372, 79 (1994).
R. Berger, C. Gerber, J. K. Gimzewski, E. Meyer, and H. J. Guntherodt, Appl. Phys. Lett. 69, 40 (1996).
R. Berger, H. P. Lang, C. Gerber, J. K. Gimzewski, J. H. Fabian, L. Scandella, E. Meyer, and H. J. Guntherodt, Chem. Phys. Lett. 294, 363 (1998).
P. G. Datskos, S. Rajic, M. J. Sepaniak, N. Lavrik, C. A. Tipple, L. R. Senesac, and I. Datskou, J. Vac. Sci. Technol. B 19, 1173 (2001).
P. I. Oden, P. G. Datskos, T. Thundat, and R. J. Warmack, Appl. Phys. Lett. 69, 3277 (1996).
E. A. Wachter, T. Thundat, P. I. Oden, R. J. Warmack, P. G. Datskos, and S. L. Sharp, Rev. Sci. Instrum. 67, 3434 (1996).
P. G. Datskos, S. Rajic, and I. Datskou, Ultramicroscopy 82, 49 (2000).
T. Perazzo, M. Mao, O. Kwon, A. Majumdar, J. B. Varesi, and P. Norton, Appl. Phys. Lett. 74, 3567 (1999).
S. P. Timoshenko, Analysis of Bi-metal Thermostats, J. Opt. Soc. Am. 11, 233 (1925).
A. M. Moulin, R. J. Stephenson, and M. E. Welland, J. Vac. Sci. Technol. B 15, 590 (1997).
R. E. Martinez, W. M. Augustyniak, and J. A. Golovchenko, Phys. Rev. Lett. 64, 1035 (1990).
H. Ibach, J. Vac. Sci. Technol. A-Vacuum Surfaces and Films 12, 2240 (1994).
R. Koch, Journal of Physics-Condensed Matter 6, 9519 (1994).
R. Koch, Applied Physics a-Materials Science & Processing 69, 529 (1999).
J. Israelachvili, Intermolecular and Surface Forces (Academic Press, San Diego, 1991).
G. G. Stoney, Proceedings of the Royal Society of London A 82, 172 (1909).
F. J. von Preissig, J. Appl. Phys. 66, 4262 (1989).
T. A. Betts, C. A. Tipple, M. J. Sepaniak, and P. G. Datskos, Analytica Chimica Acta 422, 89 (2000).
B. C. Fagan, C. A. Tipple, Z. L. Xue, M. J. Sepaniak, and P. G. Datskos, Talanta 53, 599 (2000).
N. V. Lavrik, C. A. Tipple, M. J. Sepaniak, and P. G. Datskos, Biomedical Microdevices 3, 33 (2001).
N. V. Lavrik, C. A. Tipple, M. J. Sepaniak, and P. G. Datskos, Chem. Phys. Lett. 336, 371 (2001).
C. A. Tipple, N. V. Lavrik, M. Culha, J. Headrick, P. Datskos, and M. J. Sepaniak, Anal. Chem. 74, 3118 (2002).
D. Sarid, Scanning Force Microscopy (Oxford University Press, New York, 1991).
T. R. Albrecht, P. Grutter, D. Horne, and D. Rugar, J. Appl. Phys. 69, 668 (1991).
A. J. Steckl, H. C. Mogul, and S. Mogren, Appl. Phys. Lett. 60, 1833 (1992).
J. Brugger, G. Beljakovic, M. Despont, N. F. deRooij, and P. Vettiger, Microelectronic Engineering 35, 401 (1997).
J. Buhler, F. P. Steiner, and H. Baltes, J. of Micromechanics and Microengineering 7, R1 (1997).
Y. Zhao, M. Y. Mao, R. Horowitz, A. Majumdar, J. Varesi, P. Norton, and J. Kitching, J. of Microelectromechanical Systems 11, 136 (2002).
T. Thundat, E. A. Wachter, S. L. Sharp, and R. J. Warmack, Appl. Phys. Lett. 66, 1695 (1995).
Z. Y. Hu, T. Thundat, and R. J. Warmack, J. Appl. Phys. 90, 427 (2001).
A. Boisen, J. Thaysen, H. Jensenius, and O. Hansen, Ultramicroscopy 82, 11 (2000).
M. K. Baller, H. P. Lang, J. Fritz, C. Gerber, J. K. Gimzewski, U. Drechsler, H. Rothuizen, M. Despont, P. Vettiger, F. M. Battiston, J. P. Ramseyer, P. Fornaro, E. Meyer, and H. J. Guntherodt, Ultramicroscopy 82, 1 (2000).
H. F. Ji, T. Thundat, R. Dabestani, G. M. Brown, P. F. Britt, and P. V. Bonnesen, Anal. Chem. 73, 1572 (2001).
H. F. Ji, K. M. Hansen, Z. Hu, and T. Thundat, Sens. Act. B-Chemical 72, 233 (2001).
X. H. Xu, T. G. Thundat, G. M. Brown, and H. F. Ji, Anal. Chem. 74, 3611 (2002).
D. W. Carr, S. Evoy, L. Sekaric, H. G. Craighead, and J. M. Parpia, Appl. Phys. Lett. 75, 920 (1999).
A. Erbe and R. H. Blick, Physica B 272, 575 (1999).
R. Shuttleworth, Proc. Phys. Soc. London 63A, 444 (1950).
P. G. Datskos and I. Sauers, Sens. Act. B Chemical 61, 75 (1999).
C. L. Britton, R. L. Jones, P. I. Oden, Z. Hu, R. J. Warmack, S. F. Smith, W. L. Bryan, and J. M. Rochelle, Ultramicroscopy 82, 17 (2000).
T. Thundat, G. Y. Chen, R. J. Warmack, D. P. Allison, and E. A. Wachter, Anal. Chem. 67, 519 (1995).
J. W. Grate, 1995.
H. P. Lang, R. Berger, F. Battiston, J. P. Ramseyer, E. Meyer, C. Andreoli, J. Brugger, P. Vettiger, M. Despont, T. Mezzacasa, L. Scandella, H. J. Guntherodt, C. Gerber, and J. K. Gimzewski, Appl. Phys. A (Materials Science Processing) 66, S 61 (1998).
J. Janata, M. Josowicz, and D. M. Devaney, Chemical Sensors, Anal. Chem 66, R207 (1994).
E. T. Arakawa, N. V. Lavrik, and P. G. Datskos, Applied Optics (in press).
H. F. Ji, E. Finot, R. Dabestani, T. Thundat, G. M. Brown, and P. F. Britt, Chem. Comm. 6, 457 (2000).
S. Cherian, A. Mehta, and T. Thundat, Langmuir 18, 6935 (2002).
A. Subramanian, P. I. Oden, S. J. Kennel, K. B. Jacobson, R. J. Warmack, T. Thundat, and M. J. Doktycz, Appl. Phys. Lett. 81, 385 (2002).
D. R. Baselt, G. U. Lee, K. M. Hansen, L. A. Chrisey, and R. J. Colton, Proc. IEEE 85, 672 (1997).
R. Raiteri, G. Nelles, H. J. Butt, W. Knoll, and P. Skladal, Sens. Act. B-Chemical 61, 213 (1999).
A. M. Moulin, S. J. O’Shea, R. A. Badley, P. Doyle, and M. E. Welland, Langmuir 15, 8776 (1999).
J. Fritz, M. K. Baller, H. P. Lang, H. Rothuizen, P. Vettiger, E. Meyer, H. J. Guntherodt, C. Gerber, and J. K. Gimzewski, Science 288, 316 (2000).
G. H. Wu, R. H. Datar, K. M. Hansen, T. Thundat, R. J. Cote, and A. Majumdar, Nature Biotechnology 19, 856 (2001).
R. Raiteri, M. Grattarola, H. J. Butt, and P. Skladal, Sens. Act. B-Chemical 79, 115 (2001).
Author information
Authors and Affiliations
Editor information
Editors and Affiliations
Rights and permissions
Copyright information
© 2004 Springer Science + Business Media, Inc.
About this chapter
Cite this chapter
Datskos, P.G., Lavrik, N.V., Sepaniak, M.J. (2004). Micromechanical Sensors. In: Di Ventra, M., Evoy, S., Heflin, J.R. (eds) Introduction to Nanoscale Science and Technology. Nanostructure Science and Technology. Springer, Boston, MA. https://doi.org/10.1007/1-4020-7757-2_18
Download citation
DOI: https://doi.org/10.1007/1-4020-7757-2_18
Publisher Name: Springer, Boston, MA
Print ISBN: 978-1-4020-7720-3
Online ISBN: 978-1-4020-7757-9
eBook Packages: Springer Book Archive