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Verhandlungen pp 233-234 | Cite as

Elektronen-Interferenz-Mikroskopie

Chapter

Zusammenfassung

Nach den Erfahrungen mit dem Biprisma-Interferometer für Elektronenwellen (1) mußte es möglich sein, die Phasenschiebung der Elektronenwellen bei Durchstrahlung von Materieschichten im Elektronen-Interferenzmikroskop zu beobachten. Ein Elektronen-Interferenzmikroskop (2) muß gleichzeitig die Interferenzstreifen und das Objekt scharf auf die Beobachtungsebene abbilden. Der dazu ausgewählte Strahlengang hat die Eigenschaft, bei gefordertem Abstand der Interferenzstreifen in der Endbildebene die größte Helligkeit zu liefern. Das in Abb. 1 dargestellte Biprisma lenkt die beiden kohärenten Bündel auseinander. Es überschneiden sich dann die von den beiden kohärenten Bildern der Lichtquelle in der hinteren Brennebene der Objektivlinse ausgehenden Bündel in der Beobachtungsebene und erzeugen dort ein System von Interferenzstreifen. Das Objektiv bildet dabei die Objektebene auf die Beobachtungsebene ab. Mit den Projektiven wird eine Gesamtvergrößerung von 1000- bzw. 2000fach ermöglicht.

Literatur

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Copyright information

© Springer-Verlag Berlin Heidelberg 1960

Authors and Affiliations

  • R. Buhl
    • 1
  1. 1.Lehrstuhl für Experimentelle und Angewandte PhysikUniversität TübingenDeutschland

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