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Verhandlungen pp 197-201 | Cite as

Microscopie électronique à émission secondaire et microscopie électronique par réflexion: développements récents

  • Charles Fert
  • Ferdinand Pradal
  • Robert Saporte
  • René Simon
Chapter

Résumé

Nous désirons évoquer deux méthodes d’observation directe de la surface des échantillons épais : la microscopie électronique à émission et la microscopie électronique par réflexion.

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Bibliographie

  1. 1.
    Pradal, F., et R. Saporte: C. R. Acad. Sei. (Paris) 246, 2880 (1958).Google Scholar
  2. 2.
    Fert, Ca., et R. Srmon: C. R. Acad. Sei. 243, 1300 (1956).Google Scholar
  3. 3.
    Fert, Ca., et R. Srmon, C. R. Acad. Sci. (Paris) 244, 1177 (1957).Google Scholar
  4. 4.
    Fert, Ca., et R. Srmon, C. R. Acad. Sci. et F. Pradal: C. R. Acad. Sci. (Paris) 244, 54 (1957).Google Scholar
  5. 5.
    Pradal, F., et R. Simon: C. R. Acad. Sei. (Paris) 244, 2150 (1957).Google Scholar
  6. 6.
    Induni, G.: Hely. phys. Acta 20, 463 (1947).Google Scholar

Copyright information

© Springer-Verlag Berlin Heidelberg 1960

Authors and Affiliations

  • Charles Fert
    • 1
  • Ferdinand Pradal
    • 1
  • Robert Saporte
    • 1
  • René Simon
    • 1
  1. 1.Laboratoire d’Optique Electronique de ToulouseFrance

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