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Verhandlungen pp 127-130 | Cite as

Punktauflösung von extrem feinkörnigen und extrem empfindlichen Photoemulsionen

  • A. M. D’Ans
  • E.-G. Bergansky
  • G. Tochtermann
Chapter

Zusammenfassung

Die Ausnutzung der Leistungsfähigkeit des Elektronenmikroskops hängt bekanntlich auch von den Eigenschaften des photographischen Aufnahmematerials ab. Wir untersuchten daher — außer einigen Versuchsschichten der Agfa-AG. Leverkusen — zahlreiche handelsübliche Photoemulsionen auf Gradation, Empfindlichkeit, Körnigkeit und Auflösung. Im folgenden soll über den Teil dieser Arbeiten berichtet werden, der sich auf extrem feinkörnige und extrem empfindliche Schichten bezieht. Aus den untersuchten feinkörnigen Schichten wurden die Kodak-MR-Platte (Maximum Resolution) und der Agfa-Mikrat-Film, aus den untersuchten empfindlichen Schichten der Gevaert-Structurix-D4-Film und ein Agfa-Versuchsfilm ausgewählt. Zum Vergleich mit diesen extremen Schichten ist als Aufnahmematerial mittlerer Körnigkeit und Empfindlichkeit, wie es in der Elektronenmikroskopie meist verwendet wird, die Perutz-Kontrast-Platte aufgeführt. Die Punktauflösung δ·· dieser Schichten wurde auf zwei Arten bestimmt:
  1. a)

    aus der Körnigkeit der gleichmäßig bestrahlten Schicht und als Funktion des Bildkontrasts

     
  2. b)

    aus elektronenmikroskopischen Aufnahmen eines aus punktförmigen Teilchen bestehenden Präparates.

     

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Literatur

  1. 1.
    Neider, R.: Diplomarbeit, Freie Universität Berlin, 1955.Google Scholar
  2. 2.
    Wiesenberger, E.: Dieser Band S. 769.Google Scholar

Copyright information

© Springer-Verlag Berlin Heidelberg 1960

Authors and Affiliations

  • A. M. D’Ans
    • 1
  • E.-G. Bergansky
    • 1
  • G. Tochtermann
    • 1
  1. 1.Max-Planck-GesellschaftInstitut für Elektronenmikroskopie am Fritz-Haber-InstitutBerlin-DahlemDeutschland

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