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Verhandlungen pp 116-116 | Cite as

Eine einfache Sonde zur Bestimmung von Elektronenstrahlintensitäten am Endbildschirm von Übermikroskopen

  • E. Dengel
  • F. Grasenick
  • E. Jakopic
Chapter

Zusammenfassung

Die zu beschreibende Sonde für Strahlintensitätsmessungen erfüllt Forderungen der elektronenmikroskopischen Praxis, wie einfache Bauart, Betriebssicherheit und leichte Handhabung, große Empfindlichkeit und Ausmeßbarkeit kleinster Bereiche, in weitem Maße. Außerdem besteht günstige Einbaumöglichkeit bei den üblicherweise in Betrieb befindlichen Mikroskopen unmittelbar oder durch nur geringe Änderung sowie Anwendbarkeit der verschiedensten Meßprinzipien. Einige Anwendungen zur Beurteilung photographischer Schichten und als Belichtungsmesser zur Untersuchung dünner Schichten, z. B. Schichtdickenbestimmung u. a. m., werden gezeigt, wie sie sich seit Jahren bei der Durchführung zahlreicher praktischer Arbeiten in Graz bewährt haben.

Copyright information

© Springer-Verlag Berlin Heidelberg 1960

Authors and Affiliations

  • E. Dengel
    • 1
  • F. Grasenick
    • 1
  • E. Jakopic
    • 1
  1. 1.Institut für ElektronenmikroskopieTechnische Hochschule GrazAustria

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