Advertisement

Verhandlungen pp 100-103 | Cite as

Experimentelle Untersuchung der thermischen Einwirkung des Elektronenstrahls auf das Objekt im Elektronenmikroskop

  • I. G. Stojanowa
  • E. M. Belawzewa
Chapter

Zusammenfassung

Es gibt bis heute kein eigentliches Verfahren zur Messung der Temperatur von dünnen Schichten, wie sie beispielsweise im Elektronenmikroskop untersucht werden. Alle bekannten Verfahren, deren man sich in der Elektronenmikroskopie zu bedienen pflegt, die Beurteilung der Temperatur des Objekts nach einer Phasenumwandlung seiner Bestandteile (1) oder nach dem Beugungsdiagramm (2), eignen sich nur dazu, das Erreichen gewisser Temperaturwerte festzustellen, nicht aber, Temperaturänderungen stetig zu verfolgen.

Preview

Unable to display preview. Download preview PDF.

Unable to display preview. Download preview PDF.

Literatur

  1. 1.
    Leisegang, S.: Proc. of the III. Internat. Conf. on Electron Microscopy, London 1954, p. 176 (1956).Google Scholar
  2. 2.
    Yamaguchi, SH.: Z. Physik 134, 618 (1953); Z. angew. Physik 8, 221 (1956). Winkelmann, A.: Z. angew. Physik 8, 218 (1956).Google Scholar
  3. 3.
    Leisegang, S., and O. SCHOTT: Electron Microscopy Proc. of the Stockholm Conf. 1956, p. 20.Google Scholar

Copyright information

© Springer-Verlag Berlin Heidelberg 1960

Authors and Affiliations

  • I. G. Stojanowa
    • 1
  • E. M. Belawzewa
    • 1
  1. 1.Institut für Elektronenoptik des Staatskomitees für RadioelektronikMoskauDeutschland

Personalised recommendations