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Verhandlungen pp 835-848 | Cite as

Zur Analyse von Feldionenmikroskop-Aufnahmen mit atomarer Auflösung

  • M. Drechsler
  • P. Wolf

Zusammenfassung

Es wurde versucht, Feldionenmikroskop-Aufnahmen hoher Auflösung bei Betriebstemperaturen von 80° K zu erhalten. Im Falle sehr scharfer Wolfram-Spitzen (Radius 200 A) gelang es, erstnächste Nachbaratome getrennt abzubilden (Objektauflösung 2,7 A).

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Copyright information

© Springer-Verlag Berlin Heidelberg 1960

Authors and Affiliations

  • M. Drechsler
    • 1
  • P. Wolf
    • 1
  1. 1.Fritz-Haber-Institut der Max-Planck-GesellschaftBerlin-DahlemDeutschland

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