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Verhandlungen pp 387-389 | Cite as

Nouvelle méthode de préparation de films métalliques minces et application en métallurgie

  • N. Takahashi
  • K. Ashinuma

Résumé

La préparation des films metalliques minces destinés à l’examen en microscopie électronique a été faite jusqu’à présent par évaporation thermique ou par amincissement électrolytique, quelquefois suivi d’un bombardement ionique. Dans le premier cas, l’examen par diffraction est aisé, mais les images en microscopie électronique sont loin de donner des renseignements qu’on attend en micrographie en général. L’autre méthode donne de bons résultats aussi bien en diffraction qu’en microscopie électronique, mais la technique est assez complexe et limitée à certains alliages.

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Bibliographie

  1. Thomson, G. P., and W. Cochrane: Theory and Practice of electron diffraction. p. 241, 1939.Google Scholar
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  3. —J. Inst. Metals (in press).Google Scholar

Copyright information

© Springer-Verlag Berlin Heidelberg 1960

Authors and Affiliations

  • N. Takahashi
    • 1
  • K. Ashinuma
    • 1
  1. 1.Kôfu et Laboratoire d’Optique Electronique du JaponUniversité de YamanashiTôkyôJapon

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