Zusammenfassung
In der Elektronenstrahl-Mikroanalyse versucht man, alle Effekte auszunutzen, die ein feinfokussierter Elektronenstrahl in der Probe hervorruft. Dazu zählen auch die unter dem Begriff Kossel-Linien bekannten Beugungserscheinungen an kristallinen Materialien.
Vortrag anläßlich des 4. Kolloquiums über metallkundliche Analyse mit besonderer Berücksichtigung der Elektronenstrahl-Mikroanalyse, Wien, 25. bis 27. Oktober 1967.
This is a preview of subscription content, log in via an institution to check access.
Access this chapter
Tax calculation will be finalised at checkout
Purchases are for personal use only
Preview
Unable to display preview. Download preview PDF.
Literatur
W. Blau, H. Schreiber, G. E. R. Schulze und H.-J. Ullrich, Naturwiss. 54, 535 (1967).
H.-J. Ullrich, Phys. stat. sol. 20, K 113 (1967).
H.-J. Ullrich, 7. Kongreß der Internationalen Vereinigung für Kristallographie, Moskau, 12. bis 21. Juli 1966.
H.-J. Ullrich, Monatsber. Dtsch. Akad. Wiss., 9, 627 (1967).
R. O. Simmons und R. W. Balluffi, Phys. Rev. 129, 1533 (1963).
Author information
Authors and Affiliations
Rights and permissions
Copyright information
© 1968 Springer-Verlag Wien
About this paper
Cite this paper
Ullrich, HJ., Schulze, G.E.R. (1968). Die Kossel-Technik als mikroanalytische Methode. In: Viertes Kolloquium über metallkundliche Analyse mit besonderer Berücksichtigung der Elektronenstrahl-Mikroanalyse Wien, 25. bis 27. Oktober 1967. Mikrochimica Acta, vol 3. Springer, Vienna. https://doi.org/10.1007/978-3-7091-4527-2_19
Download citation
DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-7091-4527-2_19
Publisher Name: Springer, Vienna
Print ISBN: 978-3-211-80871-9
Online ISBN: 978-3-7091-4527-2
eBook Packages: Springer Book Archive