Résumé
Nous avons construit un appareil qui permet l’observation simultanée d’une surface métallique par microscopie à émission et du diagramme de diffraction électronique par réflexion d’une partie du même objet. Le principe est le suivant (Fig. 1); les électrons du diffractographe tombant sur le spécimen massif donnent des électrons secondaires qui sont pris par l’optique d’un microscope à émission dont l’axe optique est situé à environ 90° de celui du diffractographe. L’intérêt de cet appareil est que chacun des appareils (microscope et diffracteur) apporte un complément à l’autre. Ainsi, si l’on regarde le microscope comme l’élément principal, le diffractographe apporte la connaissance de l’orientation des faces cristallines d’un spécimen polycristallin; il permet de connaître la cristallographie d’une transformation de phase qui peut être suivie d’une manière continue au microscope, enfin, la nature d’un précipité. Si l’on considère le diffracteur comme l’élément principal, le microscope à émission permet de régler son optique de manière que le spot sur le spécimen soit le plus petit possible et de localiser avec précision l’endroit où tombe le spot.
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Arnal, R. (1960). Association d’un microscope à émission et d’un diffractographe à réflexion. In: Bargmann, W., Möllenstedt, G., Niehrs, H., Peters, D., Ruska, E., Wolpers, C. (eds) Verhandlungen. Springer, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-662-01991-7_68
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