Résumé
Nous désirons évoquer deux méthodes d’observation directe de la surface des échantillons épais : la microscopie électronique à émission et la microscopie électronique par réflexion.
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Bibliographie
Pradal, F., et R. Saporte: C. R. Acad. Sei. (Paris) 246, 2880 (1958).
Fert, Ca., et R. Srmon: C. R. Acad. Sei. 243, 1300 (1956).
Fert, Ca., et R. Srmon, C. R. Acad. Sci. (Paris) 244, 1177 (1957).
Fert, Ca., et R. Srmon, C. R. Acad. Sci. et F. Pradal: C. R. Acad. Sci. (Paris) 244, 54 (1957).
Pradal, F., et R. Simon: C. R. Acad. Sei. (Paris) 244, 2150 (1957).
Induni, G.: Hely. phys. Acta 20, 463 (1947).
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Fert, C., Pradal, F., Saporte, R., Simon, R. (1960). Microscopie électronique à émission secondaire et microscopie électronique par réflexion: développements récents. In: Bargmann, W., Möllenstedt, G., Niehrs, H., Peters, D., Ruska, E., Wolpers, C. (eds) Verhandlungen. Springer, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-662-01991-7_66
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