Zusammenfassung
In einer früheren Arbeit wurden die Eigenschaften photographischer Schichten bei Elektronenbestrahlung theoretisch und experimentell untersucht (1, 2). Durch Anwendung der Übertragungstheorie auf das Problem der Wiedergabe kleiner Details im Elektronenmikroskop wurde eine Beziehung hergeleitet, die Angaben über diejenige photographische Schicht gestattet, mit der eine optimale Aufzeichnung möglich ist. Die Auswertung dieser Ergebnisse ist der Inhalt der vorliegenden Arbeit.
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Literatur
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Frieser, H., Klein, E., Zeitler, E. (1960). Das Verhalten photographischer Schichten bei Elektronenbestrahlung. In: Bargmann, W., Möllenstedt, G., Niehrs, H., Peters, D., Ruska, E., Wolpers, C. (eds) Verhandlungen. Springer, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-662-01991-7_38
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