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Eine einfache Sonde zur Bestimmung von Elektronenstrahlintensitäten am Endbildschirm von Übermikroskopen

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Verhandlungen

Zusammenfassung

Die zu beschreibende Sonde für Strahlintensitätsmessungen erfüllt Forderungen der elektronenmikroskopischen Praxis, wie einfache Bauart, Betriebssicherheit und leichte Handhabung, große Empfindlichkeit und Ausmeßbarkeit kleinster Bereiche, in weitem Maße. Außerdem besteht günstige Einbaumöglichkeit bei den üblicherweise in Betrieb befindlichen Mikroskopen unmittelbar oder durch nur geringe Änderung sowie Anwendbarkeit der verschiedensten Meßprinzipien. Einige Anwendungen zur Beurteilung photographischer Schichten und als Belichtungsmesser zur Untersuchung dünner Schichten, z. B. Schichtdickenbestimmung u. a. m., werden gezeigt, wie sie sich seit Jahren bei der Durchführung zahlreicher praktischer Arbeiten in Graz bewährt haben.

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W. Bargmann G. Möllenstedt H. Niehrs D. Peters E. Ruska C. Wolpers

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© 1960 Springer-Verlag Berlin Heidelberg

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Dengel, E., Grasenick, F., Jakopic, E. (1960). Eine einfache Sonde zur Bestimmung von Elektronenstrahlintensitäten am Endbildschirm von Übermikroskopen. In: Bargmann, W., Möllenstedt, G., Niehrs, H., Peters, D., Ruska, E., Wolpers, C. (eds) Verhandlungen. Springer, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-662-01991-7_37

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