Zusammenfassung
Bei der Untersuchung von Objekten mit Hilfe der Elektronenbeugung ist es wichtig, die Probe relativ zum Elektronenstrahl ausrichten zu können. Dies ist besonders bei der Beugungsuntersuchung massiver Präparate notwendig, weil hier die Elektronen fast streifend unter einem kleinen Winkel einfallen müssen. Dabei ist es vorteilhaft, wenn sich die Auftreffstelle der Elektronen während der Ausrichtung nicht auf der Oberfläche verschiebt. Die Justierung wird außerdem sehr erleichtert, wenn man sich neben der Beugung durch gleichzeitige lichtmikroskopische Beobachtung ein Bild von der Beschaffenheit der Probenoberfläche machen kann.
Ausführliche Veröffentlichung siehe Z. Physik 156, 163 (1959).
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Literatur
Ruska, E.: C. R. du colloque C.N.R.S. Toulouse, April 1955, p. 253.
Riecke, W. D.: Z. wiss. Mikrosk. 63, 427 (1958).
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© 1960 Springer-Verlag Berlin Heidelberg
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Riecke, W.D. (1960). Ein Präparattisch mit universeller Bewegungseinrichtung. In: Bargmann, W., Möllenstedt, G., Niehrs, H., Peters, D., Ruska, E., Wolpers, C. (eds) Verhandlungen. Springer, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-662-01991-7_24
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