Zusammenfassung
Es wurde versucht, Feldionenmikroskop-Aufnahmen hoher Auflösung bei Betriebstemperaturen von 80° K zu erhalten. Im Falle sehr scharfer Wolfram-Spitzen (Radius 200 A) gelang es, erstnächste Nachbaratome getrennt abzubilden (Objektauflösung 2,7 A).
Teilweise vorgetragen auf der Physikertagung Heidelberg, September 1957. Zusammenfassung s. Physikal. Verh. 8, 180 (1957).
Anschrift von P. WOLF: Kernreaktor GmbH., Karlsruhe.
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Drechsler, M., Wolf, P. (1960). Zur Analyse von Feldionenmikroskop-Aufnahmen mit atomarer Auflösung. In: Bargmann, W., Möllenstedt, G., Niehrs, H., Peters, D., Ruska, E., Wolpers, C. (eds) Verhandlungen. Springer, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-662-01991-7_233
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