Zusammenfassung
Die Untersuchungen, über die im folgenden berichtet wird, sollen einen Beitrag darstellen zur Diskussion der Passivität des Nickels. Ausgangspunkt war der Gedanke, daß sich eine passivierende Deckschicht mit elektronenoptischen Methoden* gut an extrem dünnen Filmen studieren lassen sollte.
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Fuchs, E., Politycki, A., Pfisterer, H. (1960). Elektronenoptische Untersuchungen an dünnen, elektrolytisch niedergeschlagenen Nickelschichten. In: Bargmann, W., Möllenstedt, G., Niehrs, H., Peters, D., Ruska, E., Wolpers, C. (eds) Verhandlungen. Springer, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-662-01991-7_165
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