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Vth International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis / V. Internationaler Kongreß für Röntgenoptik und Mikroanalyse / Ve Congrès International sur l’Optique des Rayons X et la Microanalyse

  • G. Möllenstedt
  • K. H. Gaukler

Table of contents

  1. Front Matter
    Pages I-XII
  2. X-Ray Optics

    1. J. F. McGee, D. R. Hesser, J. W. Milton
      Pages 11-26
    2. J. F. McGee, I. M. Arrazola
      Pages 27-32
    3. W. P. Reidy, R. Giacconi, G. Vaiana, L. van Speybroeck, T. Zehnpfennig
      Pages 39-44
  3. Electron Probe Microanalysis. Physical Bases

  4. Electron Probe Microanalysis. Quantitative Analysis

    1. P. Duncumb, P. K. Shields-Mason, C. da Casa
      Pages 146-150
    2. Gunji Shinoda
      Pages 175-179
    3. R. Tixier, J. Philibert
      Pages 180-186
    4. M. J. Henoc, Mlle F. Maurice, Mme A. Zemskoff
      Pages 187-192
  5. Instrumentation

    1. L. Hailes
      Pages 219-223
    2. R. Bassett, T. Mulvey
      Pages 224-230
    3. P. F. Chapman
      Pages 241-244
    4. V. G. Macres, O. Preston, N. C. Yew, R. Buchanan
      Pages 248-249
    5. L. A. Fontijn, A. B. Bok, J. G. Kornet
      Pages 261-268
    6. J. B. Nicholson, H. Neuhaus, M. F. Hasler
      Pages 269-273
    7. J.-M. Rouberol, J. Guernet, P. Deschamps, J.-P. Dagnot, J.-M. Guyon de la Berge
      Pages 311-318

About this book

Keywords

Dichte Elektronen Energie Kohlenstoff Legierungen Mineral Neuron Optik Ordnungszahl Phase Phasen Röntgenstrahlen Spektrometrie Teilchen Wellen

Editors and affiliations

  • G. Möllenstedt
    • 1
  • K. H. Gaukler
    • 1
  1. 1.Institut für angewandte Physik der UniversitätTübingenGermany

Bibliographic information

  • DOI https://doi.org/10.1007/978-3-662-24778-5
  • Copyright Information Springer-Verlag Berlin Heidelberg 1969
  • Publisher Name Springer, Berlin, Heidelberg
  • eBook Packages Springer Book Archive
  • Print ISBN 978-3-662-22845-6
  • Online ISBN 978-3-662-24778-5
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