Vth International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis / V. Internationaler Kongreß für Röntgenoptik und Mikroanalyse / Ve Congrès International sur l’Optique des Rayons X et la Microanalyse

  • G. Möllenstedt
  • K. H. Gaukler

Table of contents

  1. Front Matter
    Pages I-XII
  2. X-Ray Optics

    1. J. F. McGee, D. R. Hesser, J. W. Milton
      Pages 11-26
    2. J. F. McGee, I. M. Arrazola
      Pages 27-32
    3. W. P. Reidy, R. Giacconi, G. Vaiana, L. van Speybroeck, T. Zehnpfennig
      Pages 39-44
  3. Electron Probe Microanalysis. Physical Bases

  4. Electron Probe Microanalysis. Quantitative Analysis

About this book

Keywords

Dichte Elektronen Energie Kohlenstoff Legierungen Mineral Neuron Optik Ordnungszahl Phase Phasen Röntgenstrahlen Spektrometrie Teilchen Wellen

Editors and affiliations

  • G. Möllenstedt
    • 1
  • K. H. Gaukler
    • 1
  1. 1.Institut für angewandte Physik der UniversitätTübingenGermany

Bibliographic information

  • DOI https://doi.org/10.1007/978-3-662-24778-5
  • Copyright Information Springer-Verlag Berlin Heidelberg 1969
  • Publisher Name Springer, Berlin, Heidelberg
  • eBook Packages Springer Book Archive
  • Print ISBN 978-3-662-22845-6
  • Online ISBN 978-3-662-24778-5
  • About this book