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Einfluß von Getterprozessen auf die Eigenschaften von ionenimplantierten integrierten Fotodioden

  • Bernd Höfflinger
  • Günter Zimmer
  • Heinz Gerd Graf

Part of the Forschungsberichte des Landes Nordrhein-Westfalen book series (FOLANW)

Table of contents

  1. Front Matter
    Pages i-1
  2. Bernd Höfflinger, Günter Zimmer, Heinz Gerd Graf
    Pages 3-3
  3. Bernd Höfflinger, Günter Zimmer, Heinz Gerd Graf
    Pages 3-4
  4. Bernd Höfflinger, Günter Zimmer, Heinz Gerd Graf
    Pages 5-8
  5. Bernd Höfflinger, Günter Zimmer, Heinz Gerd Graf
    Pages 9-12
  6. Bernd Höfflinger, Günter Zimmer, Heinz Gerd Graf
    Pages 12-20
  7. Bernd Höfflinger, Günter Zimmer, Heinz Gerd Graf
    Pages 20-23
  8. Bernd Höfflinger, Günter Zimmer, Heinz Gerd Graf
    Pages 24-25
  9. Back Matter
    Pages 26-42

About this book

Keywords

CMOS Dioden Fassung Fotodiode Kanal Lebensdauer Messung Messverfahren Optimierung Profil Reibung Setzung Technologie Träger Verfahren

Authors and affiliations

  • Bernd Höfflinger
    • 1
  • Günter Zimmer
    • 1
  • Heinz Gerd Graf
    • 1
  1. 1.Lehrstuhl für Elemente der ElektrotechnikUniversität DortmundDeutschland

Bibliographic information

  • DOI https://doi.org/10.1007/978-3-322-87706-2
  • Copyright Information Springer Fachmedien 1982
  • Publisher Name VS Verlag für Sozialwissenschaften
  • eBook Packages Springer Book Archive
  • Print ISBN 978-3-531-03133-0
  • Online ISBN 978-3-322-87706-2
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