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Testverfahren in der Mikroelektronik

Methoden und Werkzeuge

  • Wilfried Daehn

Part of the Mikroelektronik book series (MIKROELEKTRONIK)

Table of contents

  1. Front Matter
    Pages I-X
  2. Wilfried Daehn
    Pages 1-9
  3. Wilfried Daehn
    Pages 11-26
  4. Wilfried Daehn
    Pages 27-68
  5. Wilfried Daehn
    Pages 69-91
  6. Wilfried Daehn
    Pages 93-124
  7. Wilfried Daehn
    Pages 125-141
  8. Wilfried Daehn
    Pages 143-200
  9. Back Matter
    Pages 201-219

About this book

Introduction

Die Akzeptanz mikroelektronischer Systemlösungen in industriellen und privaten Anwendungsbereichen hängt in starkem Maße von der Fehlerfreiheit und Zuverlässigkeit der eingesetzten elektronischen Schaltungen ab. Dies ist durch Verbesserungen in der Fertigung allein nicht mehr zu gewährleisten. Nur durch konsequentes Testen aller gefertigten Baugruppen und ICs können die um den Faktor 400 schärferen Anforderungen an die Fehlerfreiheit erfüllt werden. Die Komplexität heutiger VLSI-Schaltungen hat dabei den Anteil der Testkosten an den gesamten Herstellungskosten eines digitalen Systems in rasanter Weise steigen lassen. Das Buch gibt einen Überblick über die Algorithmen, Methoden und Werkzeuge, um diesen Herausforderungen zu begegnen. Die mathematisch exakte Formulierung der Testaufgabe zieht sich dabei von Beginn an als roter Faden durch alle Kapitel des Buches, beginnend bei der Fehlermodellierung über die Testmusterberechnung, Fehlersimulation und Testbarkeitsanalyse hin zum testfreundlichen Schaltungsentwurf.

Keywords

Automatische Testmusterberechnung CMOS Fehlermodellierung Fehlersimulation Generatoren Komplexität Mikroelektronik Produktion Schaltung Schaltungsentwurf Simulation VLSI Zuverlässigkeit

Editors and affiliations

  • Wilfried Daehn
    • 1
  1. 1.CelleGermany

Bibliographic information

  • DOI https://doi.org/10.1007/978-3-642-60559-8
  • Copyright Information Springer-Verlag Berlin Heidelberg 1997
  • Publisher Name Springer, Berlin, Heidelberg
  • eBook Packages Springer Book Archive
  • Print ISBN 978-3-540-61728-0
  • Online ISBN 978-3-642-60559-8
  • Series Print ISSN 1431-6021
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