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Wirkung hochenergetischer Strahlung auf Halbleiterbauelemente

  • Dietrich Bräunig

Part of the Mikroelektronik book series (MIKROELEKTRONIK)

Table of contents

  1. Front Matter
    Pages I-X
  2. Dietrich Bräunig
    Pages 1-14
  3. Dietrich Bräunig
    Pages 103-170
  4. Dietrich Bräunig
    Pages 171-184
  5. Dietrich Bräunig
    Pages 185-191
  6. Back Matter
    Pages 192-198

About this book

Introduction

Mit dem rasch wachsenden Integrationsgrad mikroelektronischer Schaltungen steigt der mögliche Schaden durch hochenergetische Strahlung, insbesondere im Einsatzbereich von Luft- und Raumfahrttechnik, aber auch bei Kernreaktoren, in der Materialforschung und in der medizinischen Diagnostik und Therapie. Das Buch liefert eine fundierte Einführung, die von den physikalischen Grundlagen der Wechselwirkung von Strahlung mit Materie, über die Erklärung von Schädigungsmechanismen bis hin zur Beschreibung von Strahlungsempfindlichkeit reicht. Der starke Einfluß der verwendeten Technologie wird ebenso behandelt wie die Möglichkeit der Abschirmung und der Einfluß von Strukturverkleinerungen auf die Strahlensensibiltät.

Keywords

Aktor Bauelemente Forschung Halbleiter Halbleiterbauelement Handel Luft- und Raumfahrt Physik Schaltung Technologie Transistor integrierte Schaltung

Authors and affiliations

  • Dietrich Bräunig
    • 1
  1. 1.Hahn-Meitner-Institut Berlin GmbHBerlin 39Deutschland

Bibliographic information

  • DOI https://doi.org/10.1007/978-3-642-51109-7
  • Copyright Information Springer-Verlag Berlin Heidelberg 1989
  • Publisher Name Springer, Berlin, Heidelberg
  • eBook Packages Springer Book Archive
  • Print ISBN 978-3-540-50891-5
  • Online ISBN 978-3-642-51109-7
  • Series Print ISSN 1431-6021
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