Advertisement

Laserbeugung an elektronenmikroskopischen Aufnahmen

  • Ludwig Reimer
  • Hans-Georg Badde
  • Ernst Drewes
  • Herbert Gilde
  • Heinrich Kappert
  • Hans-Jürgen Höhling
  • Dirk Barthold von Bassewitz
  • Albert Rössner
Book

Part of the Forschungsberichte des Landes Nordrhein-Westfalen book series (FOLANW)

Table of contents

  1. Front Matter
    Pages 1-3
    PDF
  2. Einleitung
    Ludwig Reimer, Hans-Georg Badde, Ernst Drewes, Herbert Gilde, Heinrich Kappert, Hans-Jürgen Höhling et al.
    Pages 5-6
  3. Aufbau einer Beugungsanlage
    Ludwig Reimer, Hans-Georg Badde, Ernst Drewes, Herbert Gilde, Heinrich Kappert, Hans-Jürgen Höhling et al.
    Pages 7-10
  4. Beugung an zweidimensionalen Modellobjekten
    Ludwig Reimer, Hans-Georg Badde, Ernst Drewes, Herbert Gilde, Heinrich Kappert, Hans-Jürgen Höhling et al.
    Pages 11-16
  5. Quantitative Auswertung der Intensität in Beugungsdiagrammen
    Ludwig Reimer, Hans-Georg Badde, Ernst Drewes, Herbert Gilde, Heinrich Kappert, Hans-Jürgen Höhling et al.
    Pages 17-21
  6. Anwendungsbeispiele
    Ludwig Reimer, Hans-Georg Badde, Ernst Drewes, Herbert Gilde, Heinrich Kappert, Hans-Jürgen Höhling et al.
    Pages 22-38
  7. Back Matter
    Pages 39-64
    PDF

About this book

Keywords

Bestimmung Beugung Elektronen Elektronenmikroskop Fluss Magnetisierung Phase Phasen Vergleich

Authors and affiliations

  • Ludwig Reimer
    • 1
  • Hans-Georg Badde
    • 1
  • Ernst Drewes
    • 1
  • Herbert Gilde
    • 1
  • Heinrich Kappert
    • 1
  • Hans-Jürgen Höhling
    • 2
  • Dirk Barthold von Bassewitz
    • 2
  • Albert Rössner
    • 2
  1. 1.Physikalisches InstitutUniversität MünsterDeutschland
  2. 2.Institut für Medizinische PhysikUniversität MünsterDeutschland

Bibliographic information

  • DOI https://doi.org/10.1007/978-3-322-88100-7
  • Copyright Information Springer Fachmedien 1973
  • Publisher Name VS Verlag für Sozialwissenschaften
  • eBook Packages Springer Book Archive
  • Print ISBN 978-3-531-02314-4
  • Online ISBN 978-3-322-88100-7
  • Buy this book on publisher's site