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ATZelektronik

, Volume 1, Issue 4, pp 18–25 | Cite as

Chancen und Grenzen von HiL-Tests

  • Horst Krimmel
  • Oliver Maschmann
  • Steffen Seidt
  • Dominik Vogt
Testing Hardware-in-the-Loop
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Zusammenfassung

Die weiter zunehmende Vernetzung der Steuergeräte erfordert optimierte Methoden und Prozesse für die Absicherung der Elektronik. Ein wesentlicher Baustein zum Test der Elektronik ist der Hardware-in-the-Loop-Test der elektronischen Steuergeräte. Dieser wird von der Prüfung einzelner Steuergeräte über die Absicherung ganzer Domänen bis hin zur Abbildung des Gesamtfahrzeugs angewandt. Dieser Beitrag stellt die Bandbreite der Technologie in der Anwendung bei ZF Friedrichshafen AG dar und bewertet deren Chancen sowie Grenzen.

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Literaturhinweise

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Copyright information

© Springer Fachmedien Wiesbaden GmbH 2006

Authors and Affiliations

  • Horst Krimmel
    • 1
  • Oliver Maschmann
    • 1
  • Steffen Seidt
    • 1
  • Dominik Vogt
    • 2
  1. 1.Zentrale Forschung und EntwicklungZF Friedrichshafen AGDeutschland
  2. 2.ZF FriedrichshafenDeutschland

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