Analyse
Cet article traite de la détermination du facteur de multiplication Mpour un fonctionnement optimal des photodétecteurs à avalanche compte tenu du bruit du montage électronique. On compare deux types de photodétecteur à avalanche: une structure au silicium n+ πpπp+et une hétérostructure du typs GaAlAs. Dans le calcul de la Puissance Equivalente de Bruit (peb)du montage, on utilise la relation Si(f) =2 IphoMxdans laquelle le paramètre x est déterminé expérimentalement. L’exposant x compris entre 2 et 4 est déterminant dans l’expression dupebdont la valeur idéale pour un systéms de photodétecteur à avalanche est obtenue quand x est égal à 2.
Abstract
The purpose of this paper is relative to the determination of the multiplication factor Mfor an optimum behaviour of the avalanche photodetector. Two types of avalanche photodetector s are compared: a silicon structuren+ πpπp+Read diode and a GaAlAs heterostructure. Calculating the Noise Equivalent Power (nep)of the whole system, the law Si(f) =2q IphoMxis used, where the parameter x is determined experimentally in both avalanche photodetectors. The exponent x (between 2 and 4) dominates in thenepexpression and the idealnepfor the avalanche photodetector system is obtained when x equals 2.
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Alabedra, R., Maille, C., Said, T. et al. Détermination du facteur de multiplication M pour un fonctionnement optimal des photodétecteurs à avalanche. Ann. Telecommun. 35, 193–198 (1980). https://doi.org/10.1007/BF03000467
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DOI: https://doi.org/10.1007/BF03000467
Mots clés
- Photodiode
- Diode avalanche
- Facteur multiplication
- Détection optimale
- Diode Read
- Diode hétérojonction
- Bruit fond
- Détecteur semiconducteur