Abstract
Data transmission networks and systems are often subject to perturbations due to the fact that (low level) data signals are surrounded by perturbing electromagnetic fields. This paper presents and analyses information perturbing mechanisms. The authors examine data streams transmitted by an elementary system which represents the basis of any electronic device. We show the influence of technological families of cmos circuits and present a test method and bench to investigate the sensitivity of devices under test by means of statistical parameters.
Résumé
Les réseaux et les systèmes de transmission d’informations sont souvent victimes de perturbations liées à la cohabitation des signaux d’information (bas niveaux) avec les champs électromagnétiques perturbateurs ambiants. Cet article présente et analyse les mécanismes de perturbation de l’information. Il s’agit d’informations logiques transmises par un système élémentaire représentant le système de base de tout dispositif électronique. On montre l’influence de familles technologiques de circuits cmos et une procédure et un banc de test mesurant la sensibilité de dispositifs sous test au moyen de paramètres statistiques sont présentés.
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Coudoro, B., Baudet, J. & Demoulin, B. Perturbation of an elementary logic system submitted to the effects induced by a perturbing sine wave. Ann. Télécommun. 51, 75–85 (1996). https://doi.org/10.1007/BF02995693
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DOI: https://doi.org/10.1007/BF02995693
Key words
- Electromagnetic disturbance
- Sinusoidal signal
- Logic circuit
- Complementary mos technology
- Electromagnetic coupling
- Failure
- Error
- Test method