Il Nuovo Cimento (1955-1965)

, Volume 29, Issue 3, pp 577–588 | Cite as

On some causes of spurious scattering in nuclear emulsions

  • P. K. Aditya
  • V. S. Bhatia
  • P. M. Sood


From multiple Coulomb scattering measurements, carried out in two planes, one perpendicular and the other parallel to the plane of the emulsion, it has been found that the dislocations in depth are strongly correlated with the dislocations in projection, the magnitude of the former being about four times that of the latter. It has been concluded that in « stripped emulsions », the spurious scattering in projection is mainly due to the dislocations in depth. These dislocations in depth, of the tracks, seem to be due to the fact that the plane of the pellicles, at the time of exposure, is not the same as that of the mounted pellicles, the tracks thereby acquiring large dislocations in depth. An attempt has been made to explain on this basis, some of the known characteristics of spurious scattering, namely, its small magnitude in glass-backed emulsions, its variation from stack to stack or plate to plate, its dip-dependence and and its cell-length-dependence.


Dalle misure dello scattering di Coulomb multiplo, eseguite in due piani, uno perpendicolare e l’altro parallelo al piano dell’emulsione, si è trovato che le dislocazioni in profondità sono fortemente correlate con le dislocazioni in proiezione, essendo la grandezza delle prime circa 4 volte quella delle ultime. Si è concluso che nelle emulsioni staccato, lo scattering spurio in proiezione è principalmente dovuto alle dislocazioni in profondità. Sembra che queste dislocazioni in profondità delle tracce s’ano dovute al fatto che il piano delle pellicole, al momento della esposizione, non è esattamente uguale a quello delle pellicole montate, per cui le tracce acquistano una forte dislocazione in profondità. Si è tentato di spiegare su questa base alcune delle note caratteristiche dello scattering spurio, cioè, la sua piccola grandezza in emulsioni montate su retro, la sua variazione da pacco a pacco o da lastra a lastra, la sua dipendenza dalla pendenza della traccia e dalla lunghezza della cella.


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Copyright information

© Società Italiana di Fisica 1963

Authors and Affiliations

  • P. K. Aditya
    • 1
    • 2
  • V. S. Bhatia
    • 1
  • P. M. Sood
    • 1
  1. 1.Department of PhysicsPunjab UniversityChandigarh
  2. 2.College of Engineering and TechnologyNew Delhi 16

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