Advertisement

Il Nuovo Cimento B (1971-1996)

, Volume 38, Issue 2, pp 216–225 | Cite as

The direct evaluation of electronic band structures of layered solids using angle-resolved photoemission

  • P. M. Williams
Article

Summary

The technique of angle-resolved photoemission is applied to the direct measurement of the two-dimensional dispersion of energy bands in graphite, GaSe and PbI2. For graphite and GaSe comparisons with calculated band structures suggest good qualitative agreement with the measured band dispersion. Photon incidence angle spectra are presented for PbI2 which demonstrate the importance of optical matrix element effects in contributions to the vectorial photocurrent.

Непосредственная оценка электронных зонных структур слоисрых твердых тел, используя технику фотоэмиссии, разложенной по углам

Резюме

Тах nика фотоэмиссии, разложенной по углам, применяется к непосредственному измерению двухмерной дисперсии энергетических зон в графите, GaSe и PbI2. Для графита и GaSe сравнение с вычисленными зонными структурами свидетельствует о качественном согласии с измеренной дисперсией зон. Приводятся угловые спектры падающих фотонов для иодистого свинца, которые указывают на важность вкладов оптического матричного элемента в векторный фототок.

Riassunto

Si applica la tecnica di fotoemissione risolta angolarmente alla misurazione diretta della dispersione bidimensionale delle bande di energia in grafite, GaSe e PbI2. Per grafite e GaSe, i confronti con strutture di banda calcolate suggeriscono un buon accordo qualitativo con la dispersione di banda misurata. Si presentano gli spettri in funzioni dell’angolo di incidenza per il PbI2 che dimostrano l’importanza degli effetti della matrice ottica nei contributi alle fotocorrenti vettoriali.

Preview

Unable to display preview. Download preview PDF.

Unable to display preview. Download preview PDF.

References

  1. (1).
    C. N. Berglund andW. E. Spicer:Phys. Rev.,136, 1030 (1964).ADSCrossRefGoogle Scholar
  2. (2).
    H. P. Hughes andW. Y. Liang:J. Phys. C,6, 1684 (1973).ADSCrossRefGoogle Scholar
  3. (3).
    N. V. Smith andM. M. Traum:Phys. Rev. B,11, 2087 (1975).ADSCrossRefGoogle Scholar
  4. (4).
    L. Ley, R. A. Pollak, F. R. McFeely, S. P. Kowalczyk andD. A. Shirley:Phys. Rev. B,9, 600 (1974).ADSCrossRefGoogle Scholar
  5. (5).
    P. M. Williams, D. Latham andJ. Wood:Journ. Elec. Spec.,7, 281 (1975).CrossRefGoogle Scholar
  6. (6).
    G. D. Mahan:Phys. Rev. B,2, 4334 (1970).ADSCrossRefGoogle Scholar
  7. (7).
    J. W. Gaszuk:Surf. Sci.,58, 19 (1975).Google Scholar
  8. (8).
    G. S. Painter andD. E. Ellis:Phys. Rev. B,1, 474 (1970).ADSCrossRefGoogle Scholar
  9. (9).
    R. F. Willis, B. Fitton andG. S. Painter:Phys. Rev. B,9, 1926 (1974).ADSCrossRefGoogle Scholar
  10. (10).
    M. Schluter, J. Cammassel, S. Kohn, U. P. Voitchovsky, Y. R. Shen andM. L. Cohen:Phys. Rev. B,13, 3534 (1976).ADSCrossRefGoogle Scholar
  11. (11).
    D. R. Lloyd, C. M. Quinn, N. V. Richardson andP. M. Williams:Comm. Phys.,1, 11 (1976).Google Scholar

Copyright information

© Società Italiana di Fisica 1977

Authors and Affiliations

  • P. M. Williams
    • 1
  1. 1.VG Scientific LtdEast GrinsteadEngland

Personalised recommendations